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为探索砷化我阴极的光电灵敏度的影响因素,利用X射线光电子能谱、二次离子擀谱和电化学方法测试和分析了国内和国外GaAs光阴极材料GaAs/AlGaAs的C,O含量的空穴深度分布。实验发现,国内的材料在GaAs/AlGaAs 面及AlGaAs层的O含量分别为7.6%和10.6%,C深度分别为5.2×10^18atoms/cm^3和1.0×10^19atoms/cm^3,而国外的材料的O含量相应为1.0 相似文献
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传秀云 《材料科学与工程学报》1998,(2)
常规的GICs合成原料均采用合成石墨或者粒度较粗的天然石墨,这里采用超微粉石墨作原料,进行受主金属氯化物CuCl2-NiCl2-GIC的合成研究。使用山东南墅石墨(3000目)、Cu-Cl2和NiCl2(5n:0.5∶0.5摩尔比),在528℃、真空度10.3Pa条件下,得到超微粉的CuCl2-NiCl2-GICs,STEM单原子能谱扫描结果显示出铜离子和镍离子分布基本均匀。合成的1,2,3和4阶GICs的电导率分别为1.536×104,1.638×104,3.773×104,和5.727×104。而石墨原料的电导率为1.851×104,从整体来看合成的GICs的电导率是石墨原料的0.8-3倍。对比合成的GICs的电导率发现,阶数不同,电导率不同,并且随着阶数的升高,电导率增大。 相似文献
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介绍了用于HT-7托卡马克的的八管弹丸注入器的物理、工程设计原理和结构特点及配置的各种诊断手段。注入器采用气动发射技术,弹丸为1mm×1mm,1.2mm×1.2mm,1.5mm×l.5mm圆柱体氢丸,丸速0.8~1.5km/s工作频率1~8Hz。 相似文献
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二维光纤列阵接口器件及其在光互连网络模块中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
提出了一种适用于光电子集成CMOS-SEED灵巧像素光互连网络的二维光纤束列阵结构和制作方法, 采用精密加工的光纤列阵定位槽和光学监控系统, 成功地研制出32×2 的单模和多模光纤列阵I/O接口器件, 光纤列阵层内及层间位移误差均小于2μm , 角向差小于0.02°。实验中, 已将二维光纤列阵I/O接口器件用于16×16 CMOS-SEED灵巧像素光电子集成Crossbar光互连模块中, 实验结果表明, 该光纤束列阵I/O接口器件完全满足光互连系统的高精度要求。 相似文献
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提出并实现了一种利用抽样法实现高速数字通信系统比特误码率测试的新方法,可以利用低速误码仪对高速系统的误码率进行测量和分析。已利用15Mb/s误码仪实现了2.5Gb/s的误码测量,并成功地应用于我国第一个2.5Gb/sIM/DD光纤传输实验系统的研制工作中。 相似文献
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本文用GSMBE技术生长纯度GaAs和δ-掺杂GaAs/Al_xGa_(1-x)As结构二维电子气材料并对其电学性能进行了研究。对于纯度GaAs的GSMBE生长和研究,在低掺Si时,载流子浓度为2×10~(14)cm~(-3),77K时的迁移率可达84,000cm~2/V.s。对于用GSMBE技术生长的δ-掺杂GaAs/Al_xGa_(1-x)As二维电子气材料,在优化了材料结构和生长工艺后,得到了液氮温度和6K迁移率分别为173,583cm~2/V.5和7.67×10~5cm~2/V.s的高质量GaAs/Al_xGa_(1-x)As二维电子气材料。 相似文献
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本文研究了InGaP/GaAs异质结构的气态源分子束外延(GSMBE)生长,所得样品晶格失配率△α/α<8.95×10 ̄(-5),本底载流子浓度为10 ̄(15)cm ̄(-3)数量级,掺硅n型样品的载流子浓度控制范围可达2×10 ̄(15)~4×10 ̄(18)cm ̄(-3)。研究了P_2和As_2气氛的切换条件对InGaP/GaAs异质结构界面特性的影响,并成功地生长了InGaP/GaAs异质结双极晶体管(HBT)结构材料,用此材料在国内首次制成的HBT器件fr=25GHz,f_(max)=46GHz,电流增益β=40,最高可达β=150。 相似文献
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正常色散光纤消啁啾的孤子传输实验 总被引:3,自引:2,他引:1
利用正常色散光纤消啁啾成功地进行了1Gbit/s,23公里的光弧子传输,观察到了一阶和高阶孤子传输现象,通过实验发现:采用适当长度的正常色散光纤消负啁啾,不仅能够压窄负啁啾的脉宽而且能够压窄频谱。 相似文献
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测量精度达3.2nm的在线表面粗糙度外差干涉仪信号处理系统 总被引:1,自引:1,他引:0
介绍了用于磨床加工的光外差表面粗糙度在线干涉测量仪整机的信号处理系统,着重讨论了其中的两项关键技术,即利用负反馈构成的宽动态范围测量信号的自动电压控制以及依据计大数和测小数相结合的高精度动态相位测量,系统的测量精度达2.6°(相当于3.2nm),允许测量中最大多普勒频移±10kHz(对应高度的变化率±8.75×10^-3m/s)完全满足磨床加工中表面粗糙度在线测量的要求。现场测试证实了这一点,这对 相似文献