单模光纤模场直径标准测量装置的研究

本文讨论一种用于单模光纤模场测量的连续变孔径方法，该方法利用一个圆形光阑沿光纤轴线方向进行远场扫描，测量不同孔径角下的光功率分布，从而得出Petermann-Ⅱ定义的模场直径，与传统的变孔径测量技术相比，该方法具有测量孔径角范围宽、取样点多以及取样角度可以控制等优点，因此提高了测量精确度和拓宽了适用范围，对不同的光纤样品在1.3um和1.55um波长下所作的实验表明，测量不确定度小于3%。     

光纤折射率分布和几何参数标准测量装置的研究

介绍了中国计量科学研究院建立的光纤折射率分布和几何参数标准测量装置，该装置采用“光反馈激光开关干涉-计算机光功率组分”测量微位移，并采用“干涉逼近法”和“插值法”测量折射率差的方法，分别使光纤的几何参数测量和折射率差测量溯源到He-Ne激光波长，测量光纤皮径和芯径的不确定度（2σ）分别为±0.25um和±0.5um。测量折射率的不确定度达到±2×10^-3。     

激光反馈干涉—计算机细分的小位移测量

本文简述了光反馈激光开关干涉的基本原理，详细描述了应用计算机象处理技术对方波信号进行内插细分的小位移测量方法肪测量装置，使用这种方法可以达到0.002um的分辨率，其测量不确定度为0.02um(2σ），实验表明，这种方法适用于在实验室条件下对小位移进行精密测量。     

阵列光纤传感式多通道脉冲分光颜色测量系统

开发了一种用采脉冲氙灯光源照明，多元阵列光纤作为多通道接收器的光纤型脉冲多通道快速分光颜色测量系统。该仪器的色分辨率高，动态范围大，色品坐标精度为０．００２，测量光谱范围为３８０～７８０ｎｍ，光谱分辨率为１０ｎｍ，测量时间几个毫秒，测量时间间间隔小于５ｓ。它能测量较暗物体和荧光物体的颜色，也能进行脉冲光源的相对光谱功率分布的测量，并能给出各种标准照明体和各种色度系统下的色度参数。     

光栅尺解调的分布式光纤光栅传感系统

提出了一种新的利用光栅尺解调一组光纤光栅布喇格波长移动的系统。当光纤光栅所受的应力或温度发生变化时,光纤光栅的布喇格波长会变化(移动)。本系统利用一组光纤光栅作为敏感元件置于被测场中;利用另一组光纤光栅作为跟踪元件,跟踪从作为敏感元件的光纤光栅反射回来的布喇格波长的移动。当作为跟踪元件的光纤光栅的布喇格波长与作为测量元件的光纤光栅的布喇格波长对准时,探测器探测到最大的光强,此时,记下光栅尺的输出作为系统的测量结果。采用数字化的方法确定反射回来的布喇格波长的峰值点,从而提高系统的测量精度,使系统的测量线性大于0.999。并利用一个测量分辨率为0.01μm的光栅尺读出系统的测量结果,使本系统对光纤光栅布喇格波长移动的测量分辨率小于1μ应变量。     

用外差偏振干涉法测量保偏光纤双折射率

提出一种基于半导体激光调频外差干涉原理的保偏光纤双折射率的测量方法，即通过测量由保偏光纤构成的偏振干涉仪输出的外差信号的频率，求得保偏光纤的相对双折射率，此方法具有较高的分辨率和潜在的高精度，以及系统结构简单，无运动部件和非破坏测量等优点。     

保偏光纤拍长测量的光源调制压力方法

提出一种用光源调制和施加压力相结合进行保偏光纤拍长测量的方法，利用锁相放大提高测量信号的信噪比，故使测量装置既结构简单，易于操作，又能达到较高的测量分辨率和重复测量精度。测量结果表明，利用该测量方法进行测量的装置其拍长测量范围为０．１￣７０ｍｍ，测量分辨率可达０．００５ｍｍ，测量的重复精度达０．０５ｍｍ。     

聚合物光纤几何参数测量系统

基于CCD图像技术提出了显微放大成像、图像相对测量，通过计算机图像处理完成外径的为1mm聚合物光纤几何参数（芯径、外径、不圆度）的测量，测量精度为6μm左右。并给出了系统的结构与原理，分析了系统实现的精度保证。该系统也可实现聚合物光纤数值孔径的测量和折射率分布的表征等。     

光纤温度测量控制系统

光纤温度测量控制系统三上顺一、前言近年来，随着光纤技术的进步，光纤在多种测量仪器中得到应用，在温度计方面也发表了各种光纤应用方式的设计方案。本文将介绍美国Ａｃｃｕｆｉｂｅｒ公司于１９８５年首先推出的使用蓝宝石传感器的光纤温度测量控制系统。它是一种基于...     

一种新型光纤传像微三维测量系统

根据结构光测量原理，利用光纤传像束所具有的自由度大、能弯曲及易实现长光路等特点，结合数字条纹投影技术和相移法测量技术，提出了一种新型微三维测量系统．因为从投影仪投射出来的光栅条纹是经光纤传像束及其两端的光学系统投射到被测物体上的。所以与其它同类系统相比，该系统降低了对被测物体方位的要求，从而使测量更加方便。拓展了微三维测量系统的适用范围．构建了测量系统，并对不同对象进行了测量，且重构出了被测物的三维形貌，验证了系统的可行性．