能量色散型X荧光分析仪光管、样品、探测器距离的蒙特卡罗优化

在EDXRF分析中,X射线荧光计数率与待测元素有密切关系.由理论可知,在能量色散型X荧光分析仪设计时,优化X光管、样品和探测器的相对几何位置对荧光计数率的改善有很大的帮助.在前期模拟的最佳角度基础上,采用MCNP程序,建立几何模型,模拟了X光管、样品和探测器之间不同距离时的X荧光计数率,得到了这三者之间的最佳距离.     

15 石墨晶体预衍射-X射线荧光分析系统的研制与应用

采用能量色散X射线荧光法测定高放射性比活度的后处理溶液样品必须克服样品自身放射线与荧光信号重叠干扰、样品强放射性造成的探测器漏计数，以及溶液样品固有的高散射特性引起的高本底影响。本工作以石墨晶体预衍射器为核心技术，克服了以上3种影响，掌握了技术关键，设计组装了1套A2靶X光管激发-石墨晶体预衍射-能量色散X射线荧光分析系统。     

S4-X射线荧光光谱仪高压发生器控制电路故障分析

简述了S4-X射线荧光光谱仪的工作原理和X光管高压发生器的控制原理,讨论了S4-X射线荧光光谱仪高压不能加载故障的多种因素,并根据每种故障的产生原因,提出排除故障的方法.     

X射线荧光分析中的综合灵敏度因子KI_0和准绝对测量

在X射线荧光分析,尤其是能量色散X射线荧光分析中常常使用相对测量方法。除了这一方法简单易行之外,主要是它避免了待测元素物理性质、激发源能量和强度、探测器特性以及几何因素等测量困难和现有参数数据不准确等引入的误差。其实质是在同一条件下,认为待测样品和标样中的待测元素含量比与特征谱线强度比相等:     

X射线荧光分析中原级谱分布的计算

X射线荧光分析中,X射线管产生的原级谱的分布对荧光分析的影响很大。尤其是在元素间吸收增强效应的校正过程中,基本参数法要求准确获得X射线原级谱的强度分布。使用MCNP程序模拟不同加速电压、不同靶材料、不同铍窗厚度等条件下电子打靶后的X射线能谱分布,为X射线荧光分析仪研制过程优化X光管靶材、管压等提供依据,实现高精度的X射线荧光分析。     

X荧光谱与人工神经网络相结合对陶片产地识别的研究

本文采用X射线荧光分析技术测量考古陶片中的微量元素,利用样品的元素种类和含量的不同对考古样本的产地进行智能化识别.针对多元素共存、计数率低等谱分析困难,采用人工神经网络方法对所测X荧光谱进行学习和识别.样本总数为48片,来自8个省份、20个采集地.用两种不同的网络结构分别对两类地域划分的陶片学习和识别,对准确产地分类的样本,产地识别率为100%;对其余样本,识别率大于60%.本方法的产地识别结果是可行的.     

X光管滤光片效应的蒙特卡罗仿真

在X射线荧光分析中,使用滤光片可有效降低原级光谱本底对待测元素的干扰,提高分析灵敏度。本文采用MCNP5方法仿真X光管滤光片对原级谱线的影响,比较了滤光片对不同能量电子束产生的X射线谱的差异,分析了不同滤光片材料及厚度与X射线原级谱衰减的关系,得到不同滤光片对X射线谱的衰减规律。     

同步辐射微束X射线荧光CT的计算机模拟

同步辐射微束X射线荧光CT是一种能无损、高空间分辨和高灵敏地探测样品内部元素含量和分布的新技术,是在建的上海光源(SSRF)硬X射线微聚焦及应用光束线站可开展的实验方法之一.本文简要介绍了同步辐射微束X射线荧光CT的基本原理和实验技术发展,对同步辐射微束X射线荧光CT实验进行了计算机模拟,用滤波反投影算法(FBP)、代数重构算法(ART)和加吸收修正的FBP算法重构了模拟样品的图像.对各种重构方法得到的图像质量进行了分析和比较,讨论了其适用性.     

能量色散X射线荧光分析现场测定地质样品中W钨含量

采用IED - 2000能量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线全能峰净峰面积,从而实现W含量的测量.对同一批化探样品进行室内波长色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,其分析结果对比表明对能量色散X射线荧光仪进行谱线处理后,可以在野外现场对W元素实现...     

电荷积分基线补偿谱仪放大器

研究建立了电荷积分基线补偿法,并应用于谱仪放大器中,有效地补偿了峰位随计数率的漂移。在X射线荧光分析应用中,当谱仪通过的计数率为2000－1200s^-1时,银峰的漂移降低到0．1％以内。