PCB 缺陷检测深度学习算法的精度改进

本文以YOLOv5目标检测算法为基础算法,针对PCB缺陷检测进行了提高精度的改进。首先通过实验选取了合适的数据增强方法。针对PCB缺陷尺寸小的问题,在原有的3个检测头基础上增加了P₂检测头。设计全新的PANet多特征融合结构,实现高效的双向跨尺度连接和加权特征层融合。针对PCB背景复杂的问题,引入了CBAM注意力模块以增强图像信息。引入了Transformer模块来增强算法,以提高捕捉不同位置的PCB缺陷信息的能力。最终通过这些改进,在检测速度FPS仅下降7.2的情况下,检测算法的mAP精度提高了11.3%。