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31.
近年来,极端灾害已经成为导致配电网大规模停电的重要原因之一。快速地对关键负荷的受灾情况进行推断,对于指导恢复抢修方案具有重要意义。传统的贝叶斯网络推断方法计算复杂度随网络节点增加呈指数上升,难以满足配电网灾情实时推断的需要。为此,结合配网开环运行的特点,建立树形的贝叶斯网络。在此基础上,提出快速灾情推断的流程和方法。对于任意选取的关键节点,该方法的计算复杂度均为节点数的一次多项式,克服了传统推断方法造成的维数灾难,可实现对大规模配电网的灾情实时推断。通过理论分析和算例仿真,验证了所提快速灾情推断方法的准确性和快速性,并论证了其在实际灾情推断中的作用。 相似文献
32.
表面漏电流引起的噪声会限制CAznTe(CZT)探测器的性能。尤其对于共面栅探测器,漏电噪声的大小与器件的电极设计和表面处理工艺密切相关。本文比较了探测器表面的物理和化学钝化工艺:采用H2O2溶液和KOH—KCl溶液对CZT样品进行湿化学钝化处理,采用RFPCVD法在CZT样品表面沉积类金刚石薄膜(DLC)进行物理干法钝化。借助俄歇电子能谱(AES)和显微拉曼光谱以及ZC36微电流测试仪等手段研究了CZT表面组成与器件电学性能之间的关系。AES结果表明KOH—KCl溶液钝化可以改善CZT样品表面的化学组分比,H2O2溶液钝化可以将表面富Te层转化为高阻氧化层,钝化前后的I-V特性曲线表明两种化学钝化方法均可以有效地减小器件表面漏电流,达到满意的钝化效果。CZT样品表面物理钝化通过在样品表面沉积DLC薄膜加以实现,显微拉曼光谱表明CZT表面钝化层是高sp^3含量的DLC薄膜,AES深度剖析表明DLC薄膜可以有效阻止CZT内部元素的外扩散,并且DLC薄膜内部C元素向CZT内部的扩散也是比较低的。DLC薄膜钝化后的CZT共面栅探测器表面栅距25μm的栅间电阻可以达到12GΩ,有效地降低了器件的表面漏电流。 相似文献
33.
34.
35.
CVD金刚石膜X射线探测器的研制及性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
金刚石以其独特的性能成为辐射探测器的理想材料.采用HFCVD方法制备了高质量、(100)取向的CVD金刚石膜,在此基础上研制出X射线探测器.使用55Fe 5.9keV X射线研究了CVD金刚石膜探测器的光电流和电荷收集效率.结果表明,探测器在偏压加到100V还具有好的欧姆接触;电场为50kV·cm-1时的暗电流与光电流分别为16.3和16.8nA;电荷收集效率η为45.1%,对应的电荷收集距离δ(CCD)为9.0μm. 相似文献
36.
介绍了一起10 kV一二次融合成套开关的故障情况,通过对开关本体及其馈线终端进行解体检查和试验,经分析可知该开关故障原因是由于外部异物短路引起,但同时也发现馈线终端内部全桥整流电源转换模块烧毁。基于Multisim仿真软件搭建了该馈线终端电源转换模块模型,进一步分析了电源转换模块烧毁的原因。针对发现的问题,分别从技术方面和管理方面提出了相应的建议及措施,能够有效发现或解决此类型开关在工程实践过程中存在的故障隐患。 相似文献
37.
38.
39.
40.
(100)定向CVD金刚石薄膜的制备及其电学性能 总被引:3,自引:0,他引:3
采用HFCVD制备金刚石薄膜的方法,以乙醇为碳源,氢气为载气,在适当的衬底温度下,合成出具有(100)晶面取向均匀生长的金刚石薄膜.SEM,XRD和Raman分析表明,所合成的金刚石薄膜是高质量的多晶(100)取向膜,厚度均匀、化学性能稳定,结构和性能与天然金刚石相接近.研究了室温下(100)取向金刚石薄膜的暗电流电压特性、稳态55Fe 5.9keV X射线辐照下的响应和电容频率特性.结果表明,退火后(100)取向多晶金刚石薄膜具有较低的暗电流和较高的X射线响应;高频下,电容和介电损耗都很小且趋于稳定,不随频率的变化而变化. 相似文献