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在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术(X-TICT)中,X射线透射物质时,发生了Compton光子散射现象,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。因此,必须进行散射修正。利用X射线透射物质时X光子散射遵循的Compton散射强度方程,结合X射线与物质相互作用的特性,建立了有效去除X—TICT在复合材料工件检测中光子散射问题造成的图像伪影的散射修正模型。探头的总计数减去散射光子数,即可有效去除X-TICT在复合材料工件检测中散射光子造成的伪影。 相似文献
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Variable influence duration (VID) join is a novel spatio-temporal join operation between a set T of trajectories and a set P of spatial points. Here, trajectories are traveling histories of moving obje... 相似文献
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随着半导体工艺水平的不断发展,3D芯片技术已成为一大研究热点。"绑定中测试"环节的提出对于芯片的测试流程有了新的要求。但是,"绑定中测试""一绑一测"的特点会使部分裸片被重复测试,从而带来测试时间的增加。从"绑定中测试"的过程出发,协同考虑测试功耗与"理论制造成本"对于"绑定中测试"的影响,提出"多绑一测"的测试流程。在此基础上提出相应的广度优先遍历算法,结合ITC’02电路的相关参数,体现本文思想在实际生产制造中的现实意义。 相似文献
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视觉传感器应用中三维扫描点云数据处理的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
分析了便携式激光视觉扫描系统获取的点云数据存在的问题,针对具体问题分析了数据处理中的关键步骤和算法,使用手动剔除和系统判断相结合的方法,有效地剔除扫描数据中的噪声数据。同时,采用数据缩减算法实现对扫描点云的采样,在保证扫描曲面特征不失真的情况下,尽可能地缩减不必要的数据。数据经过处理后,不仅可以提高模型重构的精准度,更可以降低模型重构的复杂程度。 相似文献
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