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2004年全球半导体市场在历经了前几年的低迷徘徊之后终于重现高速增长的景象,与此同时,中国IT产业也在外商加速投资设厂和内资企业持续快速发展的双重推动下加速发展,受这些外部利好因素的带动,2004年中国集成电路产业在前几年蓬勃发展的基础上加速前行,全年国内集成电路产业总产量在2003年突破百亿块大关的基础上再次突破200亿块,达到219.5亿块, 相似文献
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交联壳聚糖在棉织物上的吸附行为研究 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了综过交联的过糖在UV辐照交的棉织物的上吸附行为,吸附率主要受UV辐照所产生的羧基和交联剂的用量的影响,壳聚糖和羧基之间的静电作用力参与了固定反应,而壳聚糖之间的交联反应也使吸附率在一定程度上得到了提高。 相似文献
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基于分子动力学模拟,从原子水平研究了单晶镍刮擦诱导的微结构演变和塑性去除,重点分析了不同晶面的微结构演变特征和塑性去除差异,阐明了在滑动刮擦和滚动刮擦工况下塑性的去除规律,揭示了微结构演化和塑性去除的机制。结果表明,在紧密接触区产生的应力集中不仅是单晶镍位错滑移的源动力,而且是FCC结构向HCP结构转变和材料塑性去除产生磨屑的主因。发生磨粒刮擦时Ni(110)晶面出现最大的水平切向力,磨粒刮擦时在Ni(110)晶面内形成了具有水平滑移特征的HCP结构,其中位错滑移是其磨屑比Ni(100)和Ni(111)晶面多的主因。在同等刮擦条件下,Ni(110)晶面的塑性环脱落行为滞后。同时,密排堆垛层错行为和磨损表面的剪切应变都表现出显著的晶面选择性。与滑动刮擦相比,滚动刮擦时镍原子显著地粘附于磨粒的外表面,是切向力在刮擦过程中大幅度振荡的主要原因。 相似文献
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航空事故和灾害的发生,很大程度上是人为因素所造成的,因而挖掘出隐藏在人和管理之后的导致危险发生的诱因并提出预控对策,是航空预警管理工作的关键环节。探讨了航空公司预警管理信息系统的构建,利用信息技术对影响航空安全的人-机-环诸方面因素,进行了采集、监测、评价和预控,从预警管理的角度来提高航空公司的运行安全。 相似文献
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80.
VXI测试总线系统的电磁兼容分析 总被引:4,自引:1,他引:3
介绍了电磁兼容的基本理论和研究目的,阐述了其在电子系统中的重要作用。结合当今流行的VXI测试总线,运用电磁兼容理论和技术,分析了构建VXI测试系统过程中在电磁兼容方面应注意的一些问题及解决方法,对充分发挥VXI总线测试系统的性能、降低电磁干扰、实现电磁兼容有一定的工程应用价值。 相似文献