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991.
影响双极膜电学性能的几个关键问题的讨论 总被引:2,自引:0,他引:2
从化学动力学角度讨论了双极膜中间层催化剂的选择,双极膜中间层水的补充问题是双极膜的性能至关重要,导出阴阳膜匹配的阻抗公式,说明其电阻不是简单的阴阳膜电阻之和。 相似文献
992.
993.
A new power MOSFET Structure with a pn junction--Bipolar Junction MOSFET (BJMOSFET) has been proposed. The device has the advantages of both BJT and FET. The numerical model of the I-V characteristics of BJMOSFET has been obtained on the basis of both numerical and analytical methods. With the software package of Mathematic, we firstly calculate the gain factor, and then simulate the voltage tranmission, voltage output and voltage transfer's characteristic graphs of the BJMOSFET. The simulation result indicates that BJMOSFET has the current density, which is about 25% larger than the power MOSFET, under the same operating conditions and with the same structure parameters, except that the threshold voltage increase a little. 相似文献
994.
离子交换树脂电再生实验研究 总被引:4,自引:0,他引:4
引 言针对目前离子交换树脂酸碱再生工艺中再生药剂利用率低、再生操作步骤繁多、大量废酸碱液的排放对环境造成污染的弊病 ,借助电渗析概念提出了一种新的离子交换树脂再生方法———电再生 ,即利用水电离出的H+和OH- 离子分别再生失效的阳、阴离子交换树脂 .本实验采用单级三隔室离子交换树脂再生装置对电再生进行了研究 .1 混床树脂的电再生实验关于混床树脂电再生 ,人们已经进行了广泛的研究[1~ 6 ] .所谓电再生实质是填充床电渗析法 ,即去离子 (EDI)净水技术 .它的进水条件苛刻 ,要求反渗透处理后出水 ,填充树脂属于再生后树脂 .… 相似文献
995.
采用标准分立双极元件,对双极晶体管瞬态辐射光电流分流补偿法进行了实验验证。给出了双极晶体管瞬态辐射响应及光电流分流补偿原理,比较了带补偿与不带补偿电路的瞬态响应波形。实验结果对双极晶体管集成电路瞬态辐射加固具有指导意义。 相似文献
996.
997.
Antonio J. García‐Loureiro Juan M. Lpez‐Gonzlez 《International Journal of Numerical Modelling》2004,17(1):29-42
In this paper, we present a model for double heterojunction bipolar transistors (DHBTs) that takes into account Fermi–Dirac statistics as well as an arbitrary injection level. The most commonly used models in the literature for heterojunction bipolar transistors (HBTs), bipolar junction transistors (BJTs) and PN junctions can be easily obtained as a particular case of the general model presented here. In order to illustrate its features, the model is applied to an InP/GaAsSb/InP DHBT and an InP/InGaAs HBT. Copyright © 2004 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
998.
This paper reports an analytical modelling of current gain and frequency characteristics in Si/SiGe heterojunction bipolar transistors (HBTs) at 77 and 300 K. Important transistor parameters, such as current gain, transconductance, cutoff frequency and maximum oscillation frequency are calculated as a function of Ge concentration in the base under different injection levels. The main physical mechanisms for the current and cutoff frequency rolloff at high injection levels are also analyzed. It shows that the high-level injection effect is more pronounced in the SiGe HBTs as a result of the increasing minority carrier concentration in the base and the Ge concentration and distribution will have a decisive influence of device performance. The results may provide a basis for the design of low temperature operation SiGe HBTs. 相似文献
999.
1000.