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As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis. 相似文献
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Σ-ΔA/D转换技术及仿真 总被引:1,自引:0,他引:1
Σ-ΔA/D转换技术近年来颇受重视,因为基于该技术的A/D转换器能达到很高的分辨率(16bit以上),并另具一系列优点。本文对Σ-ΔA/D转换器的基本原理,包括过采样(Oversampling),噪声成形(NoiseShaping),以及数字抽取滤波(DigitalDecimationFiltering)等内容,均作了叙述。作者还对一个20bitΣ-Δ转换器的算法进行了计算机仿真。该转换器采用了高阶MASH噪声成形技术,而其数字抽取滤波部分则由梳状滤波器与级联的半带滤波器构成。文章中给出了仿真结果。 相似文献
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单脉冲导引头对多干扰源的角分辨 总被引:8,自引:0,他引:8
当多个噪声调频干扰同时进入单脉信号引头主波束内时,导引头对干扰源的角度分辨是非常困难的。本文主要研究了导引头单脉冲接收机对宽带噪声调频干扰源的响应,分析了当单脉冲主波束内存在多个噪声调频干扰源时,导引头指向角的跟踪规律,并重点讨论了一种用聚类来提取角信息的方法,最后仿真证实了该方法的正确性和有效性。 相似文献
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Michael E. Becker 《Journal of the Society for Information Display》2006,14(11):1003-1017
Abstract— In this paper, methods and instruments for measurement and evaluation of reflection characteristics are reviewed as needed for research and development of electronic displays and for material and surface modeling with ray‐tracing and rendering software packages. Contrast under ambient illumination and recognizability under daylight illumination are prime development targets in the electronic‐display field, while computation and synthesis of realistic scenes and objects are pushing the need for physical data in computer graphics applications. Three categories of instruments are available for detailed reflection analysis. They are based on (1) gonioscopic (mechanical) and conoscopic (optical) directional scanning, (2) imaging approaches, and (3) on arrangements with variable source or receiver aperture. The capabilities, advantages, and limitations of these methods are introduced and discussed in order to facilitate appropriate selection of methods and instruments. For illustration purposes we present typical results obtained from commercial electronic display screens. A basis for continued widespread implementation and standardization of reflection metrology as required for objective rating and comparison of electronic‐display screen performance under ambient illumination is provided. 相似文献
29.
建立了挠性胶管阻尼耗能的简化模型。以此为基础分析了挠性胶管的阻尼耗能的一般规律,并得出了一些新的结论。 相似文献
30.
DDS+PLL系统的频谱分析 总被引:4,自引:0,他引:4
简要介绍了 DDS+PLL频率合成的原理,分析了在 DDS没有相位截断误差时,DDS+PLL输出信号的杂散抑制度,并讨论了杂散抑制度与环路参数的关系。 相似文献