基于HALO规则的片内信号线寄生电感提取法

VDSM工艺下，芯片的高速、高集成度趋势使电磁耦合作用不客忽略；而电感效应的引入则使VLSI设计和验证变得复杂．利用HALO规则划分互连寄生电感交互作用域，将一类基于BP网络的并行导体电感计算方法（NNIE）应用于RLIE的环电感分段计算，提出一种快速获取布置于多层平行电源／地网络内的信号线上频变电感参数的方法．仿真结果表明该方法能有效实现电感参数估计，可作为片上关键线网设计的有效向导．     

新一代寄生参数提取软件ICExt

1.背景在高速发展的现代科学技术中,作为信息产业基础的集成电路IC(Integrated Circuit)技术在经济中的地位越来越重要。目前,IC产业已经成为国民经济增长的主要支柱。世界国民生产总值增值部分的65%与IC技术有关。它对国民生产总值的贡献是计算机产业的2倍,是钢铁产业的2000倍。过去四十年来,IC技术一直按Moore定律持续高速地发展,并有望继续保持十年以上。VLSI(Very-Large-Scale Integrated Circuits)作为现代IC技术的核心和基础,其发展速度远远超越了其它信息技术发展的速度。特征尺寸的持续减小使器件延迟在电路延迟中所占主导…     

不对称半桥变换器的小信号建模与仿真研究

不对称半桥变换器利用自身的寄生器件实现了开关管的零电压操作,在不影响电路整体结构,以及不增加成本的前提下达到了很好的输入、输出特性。文章建立了该类变换器的小信号模型,进行了动态分析、仿真研究及补偿回路设计,并对整体的电路稳定性和几个关键的频率特性进行了研究。     

信号寄生回路引起的直流接地假象

直流接地是变电站中经常发生、危害较大的一种故障现象,检出和排除直流接地故障是保证电力系统安全、稳定运行的必要条件,通过检查确定和排除了现场遇到的由于信号回路的寄生而引起的直流假接地现象,籍以引起同行的注意。     

寄生回路引起的分合闸指示灯同时亮的故障消除

对由寄生回路导致的35kV断路器机构箱本体分合闸指示灯同时亮的问题进行了研究分析,提出了整改措施,并提出了一些建议,确保电网安全运行.     

构建高精度脉冲器件自动测试系统

前言 雷达的微波射频系统主要包括混频器、滤波器、放大器、天线等部分.其中放大器、混频器、T/R组件为脉冲器件测试的主要对象.这些关键部件会对雷达的脉冲调制信号造成影响,典型的信号恶化包含:信号过冲、定降、振铃及脉冲的寄生调制(UMOP)等.     

DC/DC变换器输入阶跃响应测试方法研究

介绍了DC/DC变换器输入阶跃响应的概念和测试原理,对该参数的测试技术进行了探索,开发出适合的测试方法和测试系统。通过产品的测试,验证了测试方法和测试系统的准确性。该测试方法符合SJ20646-97《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》的规定。该测试方法和系统适用于大动态输入范围和大功率DC/DC变换器输入阶跃响应的测试。     

声光调Q全固态绿激光器中的双控驱动电路

研制出新型双控声光驱动器,能够同步控制声光Q开关和LD抽运源的工作时间,并具有10W以上的输出功率及15ns(1个声光驱动射频周期)内的调Q开关时间.应用该驱动器的全固态调Q绿光激光器的能耗减少50%以上,温升减少10℃以上,热稳定时间减少到22%,用1W的LD抽运,得到了脉宽14.5ns、峰值功率lkW的无寄生脉冲绿激光输出.     

RF-CMOS建模:MOST在片测试结构寄生分析

提出了一种新的RF-CMOS晶体管在片测试结构寄生模型,模型综合考虑了射频/微波条件下RF-MOST器件在片测试结构中的各种寄生效应.模型考虑了PAD-互连金属、互连金属-DUT(device under test)之间的非连续性,对互连金属和基底之间的寄生效应单独进行了考虑.通过引入一个新的元件,对PAD结构基底感性损耗进行表征.模型最终应用到采用CSM(Chartered Semiconductor Manufacture Ltd)0.25 μm RF-CMOS工艺制造的测试结构寄生效应等效电路建模中,高达40GHz测试和仿真数据验证了模型的良好精度.     

一种新型结构的静电感应晶体管

提出了一种新型结构的静电感应器件,设计了一道环绕的深槽,用以切断寄生效应.静电感应器件的寄生效应会导致器件性能的劣化甚至失效,文中提出了寄生效应的模型,并用PSPICE进行了仿真模拟,数值模拟结果和实验结果一致.实验表明这种深槽结构能够有效截断寄生路径,消除寄生电流的影响,优化器件性能.同时,文章详细描述了这种器件的设计和制造工艺.