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本文研究了用扫描电子显微镜(SEM)观察垂直磁化膜微畴结构的方法和观察结果。该方法的步骤是在试样表面制作高质量的干粉纹图,然后用高倍率二次电子象进行观察。由于SEM中的二次电子象具有景深大、分辨率高的特点,这项技术可用来研究磁畴的精细结构特征及其在磁化过程中的变化。 相似文献
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103.
104.
X射线底片数字化存储基本原理是运用计算机技术将底片作为景物图像经扫描器扫描,经数字化进行图像处理,把底片负象转变成数字信号,数字信号经计算机转换成光学图像在显示器上显示,进而存入磁盘或转录到磁带上作永久存储,系统软件构成主要由6个模块组成,底片的存储主要有以下特点:(1)存储无失真,可以任意复制,便于交流;(2)系统操作简单,观察更清晰,更全面,更准确。(3)节省大量的存储空间,科学地分类管理使查阅更快捷,更准确。(4)系统采用了精确的稳定控制技术,具有很高的稳定性和精确性,现代计算机技术和网络技术的进步将极大地促进底片数字化存储管理系统的广泛应用和迅速发展,另外,底片数字化存储系统的开发应用将促进无损检测缺陷智能的实现。 相似文献
105.
106.
摩擦强度对薄膜表面形态的作用:原子力显微镜下的观察 总被引:2,自引:2,他引:0
展示了摩擦强度对聚酰亚胺薄膜表面形态的影响,原子力显微图像显示,机械摩擦会使聚酰亚胺薄膜表面上形成微沟槽,这些沟槽的表面具有丰富的表面精细构造。原子显微图像还揭示了机械摩擦可以改变被磨擦聚酰亚胺膜的表面形态。 相似文献
107.
变长线扫描选择性激光烧结快速成型工艺的质量和效率优势分析 总被引:1,自引:0,他引:1
本文分析变长线扫描选择性激光烧结快速成型工艺对点扫描工艺的质量和效率优势.对二者光学系统结构作分析对比,对焦斑和线束上的功率密度作计算对比.变长线扫描系统采用的扫描方式和聚焦元件使线束宽度小且恒定,线束功率密度与点扫描焦斑的相当.变长线扫描选择性激光烧结快速成型工艺的质量优势是明显的,效率比点扫描工艺提高一倍左右. 相似文献
108.
109.
介绍了天线近场测量的基本原理和HD-1型平面近场测试系统,并对近场测量在实际天线测试中的应用情况、发展方向和应用前景等作了简单的描述。 相似文献
110.
微波中继的应用非常广泛 ,目前在二维、三维施工中跨越障碍物时 ,一般都使用微波中继站来传输命令和数据。文章就微波中继及I/OIMAGESYSTEM“蛇形排列”先进功能的实际应用进行了详细的阐述 ,同时提出了使用微波中继站应注意的问题。 相似文献