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As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis. 相似文献
53.
微波体声波延迟线的电磁屏蔽 总被引:1,自引:1,他引:0
本文分析了微波体声波延迟线多层介质的电磁屏蔽效应,结果表明,全屏蔽方式可以有效地解决微波延迟线研制中的直通抑制问题。实验结果证实了理论分析。 相似文献
54.
S V Bhat 《Bulletin of Materials Science》1994,17(7):1271-1285
When examined using continuous wave electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrometers, the highT
c superconductors give rise to intense, low field, ‘non-resonant’ absorption signals in the superconducting state. This phenomenon
can be used as a highly sensitive, contactless technique for the detection and characterization of superconductivity even
in samples containing only minute amounts of the superconducting phase. Further, it can also be applied to the determination
of material parameters of interest such asJ
c andH
c2 in addition to being a powerful way of distinguishing between weak-link superconductivity and bulk superconductivity. The
details of these aspects are discussed. 相似文献
55.
Erik Jan Marinissen 《Journal of Electronic Testing》2002,18(4-5):435-454
Modular testing is an attractive approach to testing large system ICs, especially if they are built from pre-designed reusable embedded cores. This paper describes an automated modular test development approach. The basis of this approach is that a core or module test is dissected into a test protocol and a test pattern list. A test protocol describes in detail how to apply one test pattern to the core, while abstracting from the specific test pattern stimulus and response values. Subsequent automation tasks, such as the expansion from core-level tests to system-chip-level tests and test scheduling, all work on test protocols, thereby greatly reducing the amount of compute time and data involved. Finally, an SOC-level test is assembled from the expanded and scheduled test protocols and the (so far untouched) test patterns. This paper describes and formalizes the notion of test protocols and the algorithms for test protocol expansion and scheduling. A running example is featured throughout the paper. We also elaborate on the industrial usage of the concepts described. 相似文献
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57.
58.
BaFe12O19/SiO2-B2O3微晶玻璃陶瓷的制备和微波性能 总被引:1,自引:0,他引:1
采用柠檬酸sol-gel工艺合成了BaFe12O19/SiO2-B2O3微晶玻璃陶瓷,研究了SiO2-B2O3玻璃的含量,Ba/Fe原子比和热处理温度对体系析出晶相的影响,以及介电常数和磁异率在1MHz-6GHz频率范围的变化规律,结果表明,休系中SiO2-B2O3玻璃的含量和Ba/Fe比越高,BaF312O19相的析出越困难,前驱体合适的热处理温度为1000℃,介电常数和磁导率基本上随测试频率的增而加下降;介电损耗的最大值为0.43,磁损耗较小。 相似文献
59.
AutoCAD 下非结构网格自动生成 总被引:1,自引:1,他引:0
在AutoCAD环境下,从背景网格生成和数据结构两方面对推进阵面法进行修正。采用修理后的方法,使得在流场、泥沙输移和床面冲淤数值计算的前处理过程中无须精心预设内部控制点而只需给边界一个尺度,就能自动生成适应任意复杂边界的非结构网格,从而提高网格生成、优化的效率和通用性。 相似文献
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