程序插装技术在软件内建自测试中的应用

软件内建自测试(Build-In-Self-TestforSoftware)思想来自于硬件内建自测试。其中测试点设置是软件内建自测试系统的核心模块之一,主要借助程序插装技术收集动态测试信息和控制程序流程。该文具体讨论了插装库的设计、实现以及测试点植入被测程序的过程。     

基于粒子群遗传优化算法的多机器人任务分配研究

在粒子群优化算法中,引入遗传算法中的克隆算子和变异算子,提出了粒子群遗传优化算法,并将多机器人系统的任务分配问题转换为在多维解空间内寻找最优解的问题,利用粒子群遗传优化算法在此空间寻找最优解,以实现对多机器人任务的协调分配.算例仿真表明,粒子群遗传优化算法不但具有粒子群优化算法所具有的易于工程实现、计算效率高等优点,还克服了粒子群优化算法易早熟、粒子群整体收敛性差等缺点,能够解决多机器人任务分配问题.     

基于多因子的机电设备测试性验证样本分配方案

针对目前机电设备测试性验证试验中,因样本分配不合理导致试验结论置信度低的问题,通过分析影响试验结论置信度的4个关键因素即故障模式数、故障率、故障扩散强度总和与危害度,提出了基于多因子的样本分配方案。方案依据多因子综合相对比值,得出各UUT所分配的样本量,达到优化样本结构,提高样本集代表性的目的。对单步故障扩散算法进行了改进,改进后的算法可以更有效地计算故障扩散强度,并以某机电设备稳定跟踪平台为例进行了样本分配,比较分析抽样结果证明,应用该方案得到的样本结构更加合理,可以使试验结论有较好的置信度。     

装备故障测试方案优化的概率截止算法

在装备研制的早期阶段,需要及时将装备的测试性指标和故障测试方案联系起来,并对测试方案进行优化。针对这些要求,首先,对常规故障模式、影响及危害性分析(failure mode effects criticality analysis,简称FMECA)的不足之处,提出了对于FMECA故障模式的输入信息进行改进的设想和实施方法;然后,根据研究需求探讨并确定了故障的检测特性影响指标,分别给出了各特性指标的影响等级、影响值的确定方法;最后,建立了装备故障的检测特性指标综合评估模型,提出了测试方案的优化截止算法,采用典型示例对其进行了计算验证,并对其应用进行了深入探讨。结果表明,该方法能够有效弥补现有设计方式的不足,为在研制早期制订装备测试优化方案提供了理论依据。     

数模混合边界扫描技术的研究现状与进展

数模混合电路的集成度和复杂度不断提高,电路测试的难度越来越大,混合信号边界扫描技术的推出为数模混合电路的测试提供了一种有效解决方案;文章以近年来国内外有关的文献报道为依据,对目前混合信号边界扫描技术的测试规范及测试方法进行系统的归纳,重点对该技术的新应用、新进展和发展动态进行详细介绍;针对混合信号边界扫描技术应用过程中遇到的实际问题提出了急需研究解决的主要关键技术,最后总结了该技术的发展方向和应用前景。     

基于软件仿真技术的外源性故障注入方法研究

针对当前复杂系统测试性试验中存在的无法模拟外部条件性存在的设备故障、外部输入输出故障模式单一等故障注入问题,定义了外源性故障的概念；针对外源性故障具有的功能逻辑和运行场景特性、故障源繁杂特性、模拟难度大成本高特性、总线交联特性,总结了外源性故障注入的基本要求；提出了一种面向外总线复杂应用数据仿真的外源性故障注入方法,面向总线应用层数据,从复杂系统的高级应用逻辑出发,模拟复杂系统交联环境、使用方式等故障行为,建立自动化的实时仿真故障注入环境,通过全数字仿真模型模拟交联环境的行为,进一步通过模型输入、输出或模型参数的改变,实施总线高级行为的故障注入。最后阐述了测试性试验中的外源性故障注入实施方案,分析了该方法的关键技术和环境构建思路,制定了外源性故障注入试验的实施流程。     

一种软件代码精细分析技术

精细分析对提高关键软件的安全非常重要,并因计算量大而需要自动化.本文基于J M Voas的Fault/Failure概念模型及其PIE分析,提出一个实用的软件代码精细分析技术和工具.文中描述了软件代码精细分析的全过程,重点讲述“自动分析记录”的工作流程及执行、感染和传播这三个关键分析的概念性算法,并给出了工具的框架图解.此外还提出粒度可调思想,能调节分析的精度和范围,较好地解决了Fault/Failure模型的限制,拓展了用途.最后本文给出了一些具体的应用思路,如放置警报器、评估可靠性、配置资源、设计测试实例等,以及对面向对象软件测试的启发.     

弹性分组环专用集成电路的可测性设计

根据弹性分组环专用集成电路的具体情况,提出了相应的可测性设计(Design for Test-ability,DFT)方案,综合运用了三种DFT技术:扫描链、边界扫描测试和存储器内建自测试。介绍了三种技术的选取理由和原理,对其具体实现过程和结果进行了详细分析。DFT电路的实现大大降低了专用集成电路的测试难度,提高了故障覆盖率。     

通路时延测试综述

本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述，阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类，并介绍了三种精简通路集的通路时延测试方法。     

Metrics and Criteria for Quality Assessment of Testable Hw/Sw Systems Architectures

The purpose of this paper is to present a novel methodology for assessing the quality of architecture solutions of hw/sw systems, with particular emphasis on testability. Criteria and metrics for quality assessment are proposed and used to assist the design team in selecting a best-fitted architecture that satisfies not only functional requirements, but also test requirements. The methodology makes use of object-oriented modeling techniques. Near-optimum clustering of methods and attributes into objects is carried out, in such a way that objects with moderate complexity, low coupling and high functional autonomy, result. The main features of the methodology are ascertained through a case study.