溶胶-凝胶法制备PZT薄膜及其物性特性分析

以三水合乙酸铅、四正丁氧基锆和钛酸四丁酯为原料,并以乙酰丙酮为熬合剂,乙二醇甲醚为溶剂制备PZT溶胶;在Si-Pt基板上采用溶胶-凝胶法制备热释电薄膜.采用KW-4A型匀胶机,甩胶速度为4 500r/m,甩胶30s,在马弗炉中烧结温度为400℃,退火温度分别为600℃,650℃,700℃.使用AFM观察表面形貌,在拉曼光谱仪下观测拉曼峰.试验结果表明:在600℃,650℃,700℃退火时均形成拉曼峰,650℃退火时局部区域内薄膜材料的表面光滑而致密,700℃形成了三方、四方共存的钙钛矿相结构.     

等离子体制备亲水性聚乙烯薄膜及其性能研究

以常压氩气(Ar)为工作气体,通过低温等离子体技术对聚乙烯薄膜表面引发接枝丙烯酸改性,从而制备出一种表面亲水性优良的聚乙烯薄膜,并用IR、AFM、接触角仪对其进行表征。结果表明:常压下单纯使用Ar低温等离子体对聚乙烯薄膜进行改性,表面接触角降低至43.21°±3°,但其时效性较差,随放置时间延长接触角会逐渐回复至70°±3°;而在使用表面丙烯酸接枝改性后,可使其接触角降低至19.21°±3°,并且接触角可稳定在30°±3°,薄膜表现出更优良的亲水性和耐久性。     

纳米ZnO粒子的溶胶凝胶制备及抗菌活性研究

采用溶胶凝胶法制备了纳米ZnO粒子,通过XRD、SEM对所制备粉体颗粒的物相组成以及表面形貌进行表征,并且通过K-B纸片扩散法研究了抗菌性能,并对比了紫外光照前后的抗菌性能.结果表明,所制备的ZnO纳米粒子粒径约为200nm左右,显示优良的抗菌活性,未经紫外光照对大肠杆菌(Escherichia coli)和金黄色葡萄球菌(Staphylococcus aureus)的抑菌圈达到18～22mm,并对其机理做了初步探讨.     

非水解溶胶-凝胶法制备TiO2薄膜及光电催化性能的研究

摘要： 性能．结果表明：不同涂覆层数的TiO2薄膜表面结构变化不大,TiO2呈锐钛矿．光电催化性能测试结果显示：甲基橙的脱色率随外加电压的增加而增加;甲基橙浓度的增加使脱色率逐渐降低;在酸性条件下脱色效果要好于中性和碱性条件下．在甲基橙的初始质量浓度为15mg／L,外加电压1500mV,pH为3时,甲基橙的脱色率约30min即可达到平衡,可达90％左右．     

在LaNiO_3衬底上（Pb,La）TiO_3铁电薄膜的制备和研究

首先通过金属有机化合物热分解（MOD）法在Si（100）基片上制备出LaNiO3（LNO）薄膜,再通过溶胶-凝胶（sol-gel）法,在LNO/Si（100）衬底上制备出（PbxLa1-x）TiO3（PLT）铁电薄膜。经XRD分析表明,LNO薄膜具有（100）择优取向的类钙钛矿结构,PLT/LNO/Si薄膜具有四方相钙钛矿结构,同时以（100）择优取向。最后对薄膜的介电性和铁电性进行了测试,发现薄膜介电常数适中,铁电性良好。     

硅橡胶/纳米石墨片复合薄膜的压阻特性研究

采用旋涂工艺,制备了硅橡胶-纳米石墨片复合薄膜.采用SEM,XRD手段,表征了薄膜的组织和相结构,并测量其电性能.结果显示,纳米石墨片与硅橡胶界面结合较好,且分散均匀;薄膜的渗流阈值为Φ=6.5%,电阻为106Ω量级.渗流薄膜的面内电阻呈现正线性压阻效应,由于导电网络发育完整,SR-8%GNPs体系显示了优良的循环压阻性能.     

铝片/环氧树脂复合薄膜的制备及介电性能

采用旋涂工艺,制备了片状铝粉/环氧树脂复合薄膜材料,对材料组织和相结构进行了XRD,TEM和SEM表征,测量了复合薄膜的介电性能.结果显示,铝粉在树脂中分散均匀,并沿膜面定向排列;薄膜的介电常数和介电损耗随着填料含量增加而增大,在φ=30％时,综合介电性能达到ε=90,tarδ=0.035;基体树旨反应活性高,粘度低,有利于提高薄膜的介电性能.     

一株拮抗绿脓杆菌的抗菌蛋白产生菌的分离与鉴定

获得了产生拮抗绿脓杆菌抗菌蛋白的菌株。从土壤样品中筛选拮抗绿脓杆菌的菌株,采用形态学和16S rDNA分析鉴定其分类地位,采用琼脂平板扩散法测定分离菌发酵产物拮抗绿脓杆菌的活性,采用硫酸铵沉淀、分子筛分离发酵上清中的目标蛋白,测定了目标蛋白的蛋白酶敏感性、高温耐受性。结果表明:从土壤中分离出的该株不动杆菌,从其发酵产物中纯化出的目标蛋白有拮抗绿脓杆菌的活性;该目标蛋白对蛋白酶K或高温敏感,处理后可降低或丧失抗绿脓杆菌的活性,该抗菌蛋白相对分子量约35 KD。     

氧化硅基FeOOH/TiO_2纳米复合膜的自组装制备与表征

以氧化硅(SiO2)为基底,在其上组装磺酸根(SO3H)为外侧功能团的自组装分子单层。以此为模板,先后采用TiCl4-HCl液相反应体系和FeNO3-HNO3液相反应体系诱导制备了FeOOH/TiO2复合薄膜。通过SEM和HRTEM对该薄膜表征,确定它们分别属于锐钛矿和针铁矿(α-FeOOH)结构,并对其生长机理进行了探讨。TiO2薄膜的形成与基底磺酸基团之间的相互作用有关,α-FeOOH的形成既受基底单分子层磺酸基团的调控,也受到TiO2表面键的化学作用,HRTEM观察到纳米锐钛矿和针铁矿二者可通过合适的界面如TiO2-(004)/(111)-α-FeOOH共晶生长。