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计算了应变Si1-xGex层的本征载流子浓度及导带和价带有效态密度。用解析方法研究了它们与Ge组分x和温度T的依赖关系。发现随Ge组分x的增加,导带和价带有效态密度随之快速减小,而本征载流于浓度却随之而近乎指数式地增加。而且,温度T越低,导带和价带有效态密度随Ge组分x的增加而减小得越快,而本征载流于浓度上升得越快。同时还发现,具有大Ge组分x的应变Si1-xGex层,其用Si相应参数归一化的导带和价带有效态密度及它们的积对温度T的依赖关系弱,而具有小Ge组分x的应变Si1-xGex层,上述归一化参数对温度T的依赖关系强,这和目前仅有的文献[8]中,它们与温度依赖关系的定性研究结果相一致。 相似文献
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针对应变Si1-xGex的应变致能带分裂及重掺杂对裂值的影响,提出了多子双带结构的等价有效简并度模型和有关算法。模型中考虑了非抛物线能带结构。应用该模型,计算了赝形生长在(100)Si衬底上的Si1-xGex应变层的重掺杂禁带窄变,发现当掺杂超过一定浓度(对于p型和n型合金,该浓度分别约为1.9×1019cm-3和3.5×1019cm-3)后,它在某一Ge组分下得到极大值,而当掺杂低于这个浓度时,它则随Ge组分的增加单调下降。文中还将计算结果与其它未细致考虑应变致能带分裂因素的理论工作进行了比较。 相似文献
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历史文化街区保护更新规划是历史文化名城保护规划中的重要组成部分,文章以中山市从善坊历史文化街区保护更新规划项目为例,介绍了保护规划编制过程中的方法与内容,并对编制过程中的问题进行了总结和思考,希望对同类型历史文化街区的保护更新规划有所借鉴。 相似文献
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基于异质结漂移-扩散模型,考虑Fermi-Dirac统计和重掺杂能带窄变(BGN)效应,对具有非均匀掺杂基区的AlGaAs/GaAsHBT进行了数值模拟.结果表明,当基区非均匀程度较大时,非均匀掺杂引起的基区自建场远大于BGN效应产生的反向场.基区非均匀掺杂能提高电流增益,但提高的幅度随非均匀程度的增加而减慢.基区非均匀掺杂可明显改善截止频率fT,但同时也增加了集电结空间电荷区渡越时间τc,scR,使得fT在非均匀程度较大时开始下降.发射极-集电极offset电压在一定的非均匀程度下达到最佳值. 相似文献
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本文较系统和全面地总结了GaAs和AlxGa1-xAs材料的物理参数模型,包括介电常数、能带参数、载流子迁移率以及复合机制和寿命等,给出了易于应用的数学公式,其中AlxGa1-xAs重掺杂能带窄变公式为本文首次推导。这些物理参数模型对于AlxGa1-xAs/GaAs异质结器件的研究有着十分重要的意义。 相似文献
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目的 调查糖尿病周围神经病变患者的营养状况.方法 收集糖尿病周围神经病变患者入院时体质指数(BMI)、血红蛋白(Hb)、总淋巴细胞计数(TLC)、血清白蛋白(ALB)4项营养指标并进行分析评定.结果 糖尿病周围神经病变患者营养不良的发生率为38.9%~53.3%.结论 糖尿病周围神经病变患者营养不良的发生率较高,对此提出了饮食护理的原则和建议. 相似文献
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