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用微波光电导谱研究半导体薄片的少子扩散长度和表面复合速度 总被引:1,自引:0,他引:1
当半导体薄片同时受到微波和光照射时,通过样品的微波传输系数与光的波长有关,当光的波长连续地变化时,微波传输系数也连续地变化。本文分析了在半导体薄片中的少子扩散长度、少子寿命及表面复合速度与上述微波传输系数的变化△T之间的关系,并通过测量半导体薄片的微波光电导谱计算这些参数。研究表明,可以从微波光电导谱中的△T的峰值位置直接算出少子扩散长度。这是一种无接触、无损伤的快速测试方法,测试区域是直径为3mm的一个圆斑,样品可以在测试台上自由移动。本方法的测试结果与其它方法所得的结果是较为一致的。 相似文献
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用光电导衰退法测量半导体薄片的少子寿命时,由于表面复合的影响,通常从光照后少子衰退曲线中算得的表观寿命与实际的体寿命是相差很大的.本文给出了少子扩散方程的一种解法,计算表明,少子光电导衰退曲线用本方法解出的一次模和二次模的叠加来表示已是足够了.可以利用算得的一次模、二次模表达式从少子衰退曲线中算出表面复合速度和少子体寿命,其计算方法是比较方便的.本文还给出了一些实验和计算结果. 相似文献
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分析了目前OFDM系统中当信道时延大于保护间隔时,采用信道压缩方法后存在的问题,指出了信道压缩后目标信道某些频点产生深衰落的可能性,提出了一种OFDM传输系统中双重自适应配置的多径干扰抵消方法。通过自适应配置与信道压缩相结合的方法克服了压缩后由目标信道频率深衰落产生的较低信噪比的子载波在频域均衡时的影响,在减少系统保护间隔开销的同时进一步改善了误码率;通过蒙特卡洛(MONTE CARLO)方法在无线信道条件下对算法进行了模拟,模拟结果显示该方法能有效改善系统性能。 相似文献
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一种高精度的TOA估计方法 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种 CDMA系统的高精度的信号到达时延(TOA)的估计方法。在不提高采样频率的情况下,使用积分-清除电路对接收信号进行采样,将离散信号用离散傅里叶变换(DFT)转换到频率域中,然后根据 CDMA信号模型和多径信道模型以及已知的扩频码的离散频谱,估计出信号相对于一个码片周期的整数部分 TOA;再在离散频率域中用最小二乘法估计出信号到达的小数部分 TOA,该方法即使在采样频率不高的情况下,也有很高的精度,而且运算量小,因此是一种有效的高精度 TOA估计方法。 相似文献
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