基于粒子群优化的连续发酵过程PID控制

发酵过程通常具有较强的非线性,传统的PID控制器难以获得满意的控制效果。提出采用粒子群优化算法整定PID控制器的参数。结合过程机理,将整个连续发酵过程分解为三个子区间,并优化获得每一个子过程的PSO-PID控制器。仿真结果表明,通过PSO子过程优化的PSO-PID控制器性能优于普通的PID。     

某电厂600 MW机组3号高压加热器筒体泄漏原因分析

某电厂600 MW机组3号高压加热器筒体下半部分的疏水液位处发生多次泄漏,为了分析泄漏原因,对3号高压加热器进行了在线的温度和应力测量,并采用ANSYS有限元软件进行温度场和应力场模拟计算与分析.结果表明,由于3号高压加热器包壳泄漏,使得疏水液位处筒体产生明显的温度梯度和较高的交变应力,从而引起筒体疲劳破坏,产生了泄漏.     

合成氨装置重大危险源后果预测

对某企业的合成氨装置重大危险源进行识别,采用火球事故危害模型和中毒事件的连续泄漏事故模型,并用《化学事故危害评估与应急救援系统》软件对合成氨装置重大危险源气化炉和液氨储罐进行了后果分析与评价,得出了相应的重大危险源危害范围评价结果和装置危害示意图,最后提出了相应的安全对策措施及建议。     

风诱导塔振动对塔气动特性影响研究

塔设备风诱导振动对卡门涡脱落及气动特性的影响规律研究对于塔设备共振预测和设计计算十分重要,对塔设备振动下的气动特性问题进行数值模拟研究。采用数值求解N-S方程结合Transition SST湍流模型的方法模拟塔设备周围气流的非定常流动,获得塔外表面的风压系数分布,并结合试验数据验证了文中模拟方法的准确性;继而将塔设备振动简化为正弦运动,采用弹簧动网格技术实现网格动态生成。研究了塔设备振动频率以及振幅的变化对横向力系数、阻力系数和涡脱落频率等气动参数的影响规律,结合塔设备共振条件,指出了气动特性的改变对塔设备共振预测的影响规律。     

HDPE厚壁制品收缩及缺陷形成分析

利用Moldflow3D网格模型,对边长为30mm的高密度聚乙烯(HDPE)立方体进行填充保压分析,分别模拟分析了模温、保压时间、熔体温度和保压压力对厚壁制品体积收缩率的影响。结果表明,模温和保压时间对其体积收缩率影响最为显著。根据模温对厚壁制品体积收缩率的影响及厚壁制品表面凹陷和内部缩孔的形成机理,将注射成型的HDPE立方体置于3种不同的冷却环境中,发现凹陷和缩孔的形成情况与理论预期结果一致,当冷却环境温度为120℃时,缩孔消失。     

加载历史和裂纹闭合对疲劳裂纹扩展行为影响的数值模拟

采用不同应力比条件下的16MnR钢紧凑拉伸试样,设计了三种有限元分析模型,即不考虑加载历史效应的静态裂纹扩展模型,同时考虑加载历史和裂纹闭合的动态裂纹扩展模型以及仅考虑加载历史的伪动态裂纹扩展模型,对疲劳裂纹闭合过程、裂纹尖端的应力-应变迟滞环、疲劳损伤和裂纹扩展速率进行了数值模拟与分析,进而着重探讨了加载历史和裂纹闭合影响疲劳裂纹扩展行为的交互作用机制。结果表明:对于同类分析模型,应力比越大越不容易产生裂纹闭合;而在应力比相同的情况下,加载历史引起的残余压应力对裂纹闭合有明显的促进作用。裂纹闭合效应阻碍了平均应力的松弛,减小了裂纹尖端附近的应力-应变场强度、疲劳损伤和裂纹扩展速率,而加载历史引起的残余压应力则加快了平均应力的松弛和抑制了棘轮效应。与实验结果比较发现,只有同时考虑了裂纹闭合效应和加载历史影响的动态裂纹扩展模型,才能对疲劳裂纹扩展行为进行准确、定量的模拟。     

16MnR钢高温疲劳裂纹扩展行为试验研究

为了研究高温条件下材料的疲劳裂纹扩展规律,对16MnR钢在25、150、300和425℃4种温度条件下的力学性能及疲劳裂纹扩展速率进行了测试与分析。试验结果表明:16MnR钢在150和300℃的疲劳裂纹扩展速率比25和425℃时低,300℃时疲劳裂纹扩展速率最低,300℃以上时随着温度的升高裂纹扩展速率增大,425℃时疲劳裂纹扩展速率最高。得出的结论为在高温条件下相类似材料的疲劳寿命评估提供了理论依据。     

碳钢和低合金钢在碳酸盐溶液中的应力腐蚀研究进展

介绍了碳酸盐溶液中的碳钢低合金钢应力腐蚀情况，重点阐述了碳酸盐环境浓度、pH值、温度、其他离子成分等因素影响碳钢低合金钢应力腐蚀的研究现状，并提出几点建议。     

基于失效模式的联锁系统安全与误跳车计算方法

需用故障率（PFD）及误跳车（MTTFS）是联锁系统定量安全评定中两个重要指标.联锁系统中,传感器子系统发生故障时不会立即导致联锁系统的拒动或误动作,而与此不同的是,最终执行机构发生的拒动或误跳车通常会直接导致整个联锁系统的误跳车.通过对两种常用的联锁系统连接结构（二取一及二取二）的比较及深入分析,归纳了最终执行机构四种不同的PFD及MTTFS计算模式用于联锁系统安全与误跳车分析,对于联锁系统定量安全评定具有指导作用.     

电子产品失效率的Bayes估计

电子元件失效率是安全联锁系统可靠性指标计算的重要基础.本文采用Bayes方法,对寿命分布服从指数分布的电子产品的失效率进行估算,推导了失效率点估计计算的公式.这种方法能够充分结合文献数据和工程试验数据,提高失效率的估算精度.算例表明该方法实用性强,有较好的的工程指导作用.