元器件与组件

低电容晶闸管浪涌保护器NP0080、NP0120和NP0160低电容、低泄漏晶闸管浪涌保护器件(TSPD)采用节省空间的TSOP-5封装,在发生浪涌和静电放电(ESD)事件时,他们可以保护数字用户线路(DSL)芯片组和线路驱动器。在工作电压范围内拥有小于     

OCB液晶显示的动态驱动特性

研究了强锚定边界条件下光学补偿弯曲排列(OCB)液晶的动态驱动特性。理论模拟计算了OCB液晶盒内液晶分子指向矢在给定电压情况下的分布规律,得到光线垂直入射时液晶盒相对透过率随交流电压有效值的变化曲线。实验测试液晶盒的电光特性,并给出测试液晶盒动态驱动条件下的响应时间及视角特性。     

多用户并发控制的入侵检测漏警实验系统

利用多种入侵检测躲避技术,采用三层B/S结构,研究并实现了多用户并发控制的入侵检测漏警实验系统,该系统支持多用户并发实验而不相互冲突.对系统的测试以及实践证明,该系统可支持500名左右的用户同时实验并且响应时间不超过3秒.     

数字存储示波器在自动测试系统中的应用

介绍了基于GPIB总线的计算机与测试仪器之间的通信来完成对某电台模块性能指标自动测量的方法.系统采用LabWindows/CVI虚拟仪器的开发平台,使用带有GPIB接口的数字存储示波器测量AGC响应时间、信号的失真度,实现了指标的自动测试,并给出了相应的数据处理方法和部分程序设计代码,实验证明是成功的.     

银复合的Ge-In-S-CsI硫系玻璃的非线性光学性能研究

通过真空熔融淬冷法制备了银复合的70GeS₂-20In₂S₃-10CsI硫系玻璃样品, 利用Z-扫描技术研究了玻璃样品在800 nm处三阶非线性光学性质, 发现引入Ag可提高其折射率n和非线性折射率γ, n从2.204增加至2.4087, γ从23.3×10^-18 m²/W增加到30.5×10^-18 m²/W, 此外非线性响应时间从70 fs增加到79 fs。热处理对玻璃的非线性光学性能的影响研究显示, 热处理后样品的γ增加至44.3×10^-18 m²/W, 是As₂Se₃玻璃的两倍多。发现析晶后带隙变小(吸收边红移)导致非线性吸收系数β减小, 使得样品的品质因子提高至3.3。Ag复合的硫系玻璃及玻璃陶瓷非线性折射率大、品质因子高、非线性响应快, 有望用于全关开关等各类非线性光学器件中。     

真空元件流阻对射流式真空发生器流量特性的影响研究

射流式真空发生器抽吸侧通常安装有真空检测元件和控制元件等,以实现自动吸着、实时检测等功能。但是,真空检测元件和控制元件等气动真空元件的流阻会导致其流量特性发生改变,并伴随延长吸着响应时间。为了定量地描述气动真空元件的流阻对真空发生器流量特性的影响,该课题先采用等温容器对真空发生器静态流量特性进行了测量,并结合小孔流量特性的表达式,推导出存在流阻时真空输出端压力与流量关系的数学表达式;再根据真空回路中流量与压力的物理关系,提出了判断流阻对抽吸流量影响程度的无量纲数Gr^*;接着,测试真空输出端压力响应特性,并将根据真空输出端压力与流量关系的数学表达式和容腔放气模型得到的压力响应仿真曲线进行比较,得出测试曲线与仿真曲线相吻合;最后,对压力响应曲线进行无量纲化处理,指出无量纲数Gr^*的大小既能反映出流阻对流量特性的影响程度,又能帮助判断吸着响应时间的长短,在设计真空发生器回路时,可以参考Gr^*选择合适的气动真空元件,简便有效。     

最大20英寸 市售千元显示器一览

前言:金九银十是传统的销售旺季,IT市场也是如此,虽然现在22英寸以及24英寸全高清显示器最吸引消费者的眼球,但是大部分消费者实际购买的多是19英寸、20英寸的显示器,并且价格多在千元左右,那么在千元以内,我们是不是就没有好的选择了呢?是不是就没有一线大厂的产品了呢?答案就在本文……     

分散控制系统综合测试探讨

针对分散控制系统事件顺序记录系统的分辨率、系统负荷率、系统响应时间、刷新时间无法测试的问题,研发了1套高精度的分散控制系统综合测试装置。     

核电厂仪控系统响应时间测试的改进设计

核电厂仪控系统响应时间是关系到核电厂数字化仪控系统安全性的重要指标。但传统的响应时间测试方式依赖于测试人员操作。其自动化程度低,影响核电厂仪控系统调试的效率。因此,需改进原有测量方案来提高响应时间测量的效率与自动化程度。由于当前核电厂仪控系统逐步采用集成化测试平台开展调试工作,可结合此类平台对传统测试方案进行改进。通过采用多通道数据快速采集技术设计响应时间测量模块,可在专用测试脚本的控制下与集成化测试平台协同工作,实现响应时间的自动化测量。同时,进一步引入数字图像处理技术检测人机接口状态变化,可实现对数据上行时间等参数的批量自动化测试。经测试,改进方案可显著减少响应时间测试的时间和人力成本,有助于进一步提高核电厂仪控系统工厂测试效率与测试充分性。