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51.
基于确定周期性任务的进程管理及可调度性分析   总被引:4,自引:1,他引:3  
文中讨论了基于确定周期性任务的实时进程管理,对确定周期性任务采用调度器生成的管理方式,通过截止期递增分类法将非性任务分为两类,分别采用中断内抢占调度和信号调度,提出了改进的最大紧急度优先算法,分析了目标系统的可调度性,给出了春可调度的充要条件。  相似文献   
52.
针对故障源作用下的系统可靠性的评估问题,建立了一种具有实输入数组的新的 Neuman型故障源(实故障源)的模型,并应用概率分析的方法评估了在这种故障源作用下由 函数元构成的系统的可靠性,给出了系统可靠性的下界估计,阐明了在实故障源作用下的基 底上不可能建立任意可靠的系统.最后研究了满足实故障源条件的函数元基在所有函数元基 中所占的比例,并给出了它的渐近估计.  相似文献   
53.
智能家庭网络研究与开发   总被引:19,自引:2,他引:17  
随着互联网在全世界范围内的崛起 ,网络不可阻挡地进入了家庭。对智能家庭网络的研究已经成为成为信息产业中一个跨世纪的研究热点。我们研究开发出了国内第一套具有自主知识产权的智能家庭网络系统原型。介绍了智能家庭网络的功能和体系结构 ,分析了系统中的关键技术 ,包括嵌入式网络操作系统和通信协议 ,并且指出了智能家庭网络今后的研究方向。  相似文献   
54.
高层次综合中的模块分配会直接影响到寄存器分配方案,进而影响到综合后电路的面积、时延、功耗和可测性.为此提出一种面向可测性的模块分配方案.在讨论了考虑可测性的模块分配原则之后,提出面向可测性的模块分配的权重图模型,并在此基础上给出基于权重图的可测性模块分配算法.按照最大可测性提高的原则,通过动态地修改权重对模块进行考虑可测性的均衡分配,并最终输出模块分配方案.对标准电路进行实验的结果表明,除了较小的面积开销外,采用文中方案的电路的可测性优于其他方案.  相似文献   
55.
智能家庭网络研究综述   总被引:37,自引:6,他引:31  
首先阐述了研究智能家庭网络的意义及其基本概念;然后逐一个介绍了国际上比较重要的六种智能家庭网络系统各自的特点,并列表将它们进行比较,指出它们的共同特点以及智能家庭网络的未来发展趋势;最后分析了智能家庭网络需要研究的主要问题。  相似文献   
56.
数字电路板级故障诊断的标准接口文件IEEE1445(DTIF)已被各型ATE设备广泛支持,但在使用中普遍存在可读性较差、缺乏有效的人工干预接口等问题。本文介绍了DTIF文件的开发软件DTIFAssist,它在实现数据可视化的基础上,引导测试人员完成TPS开发的全过程,并最终生成标准文件,可有效提高历史测试数据的利用率,降低测试成本。  相似文献   
57.
基于斜率故障模型的模拟电路软故障字典法   总被引:7,自引:0,他引:7  
提出了一种新的模拟电路故障字典法。与传统方法不同,该方法利用两个节点电压之间的关系函数作为故障特征。对于线性模拟电路,节点电压关系函数为一次函数,函数的斜率可以作为故障模型,同时可以诊断硬故障和参数(软)故障。由于模拟电路存在容差,最小直线距离法可以用于处理电路中的容差问题。  相似文献   
58.
时序电路的测试序列通常由各个单故障的测试向量组成.为了减少测试时间和功耗,提出2种测试向量融合算法.借助融合灵活性的概念,2种算法按不同的方式对向量序列进行排序,并以融合深度和代价作为评判准则,构建向量的融合过程,最终生成整个电路的测试序列.该算法与已有的Greedy算法时间复杂度相同,但性能更优.在ISCAS89部分电路上的实验结果表明,采用文中算法可使平均性能分别提高4.96%和8.23%.故障仿真结果表明,文中算法的故障覆盖率有少量提高,故障分辨率变化较小.  相似文献   
59.
为了减少测试成本,基于片上数字化的思想,提出复用片上DAC和ADC数模混合片上系统模拟芯核并行测试结构.自保持模拟测试接口可暂存模拟测试激励和测试响应,减少每个测试端口添加的DAC和ADC所产生的额外面积开销,实现芯核级多端口测试和系统级的多核并行测试.采用流水线式并行测试结构减少DAC输出测试激励的等待时间;并进一步分析了模拟测试外壳的测试成本评价方法和优化问题数学模型,在此基础上设计测试成本优化算法,得到优化的模拟测试外壳组分配方案.实验结果表明,文中提出的模拟芯核测试结构对精度的影响小于0.25%,对测试时间可优化40%以上.  相似文献   
60.
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求。传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试。在现有LUT自测试链结构的基础上,通过合理选择TPG的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加TPG部分的故障覆盖率,提高测试效率。  相似文献   
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