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在软件开发过程中,克隆代码已经成为引起软件缺陷的一个重要因素.针对现有的方法不能很好地处理内聚度低、功能交叉的克隆代码的问题,提出了一种基于K-最近邻的克隆代码重构方法.首先,对克隆代码进行静态分析,搜集控制依赖信息和数据流信息,再经过K-最近邻聚类方法,形成便于提取、功能独立的代码片段,然后对代码片段进行过程提取,使... 相似文献
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冗余代码缺陷检测方法 总被引:1,自引:1,他引:0
为解决冗余代码缺陷检测复杂度较高且检测精度较低的问题,设计并实现了基于控制结构的冗余代码检测模型.通过对TOKEN序列建立复合语句结构信息表,精简了程序的控制依赖关系,并在此基础上对幂等操作、死代码以及冗余赋值3种冗余代码进行检测,有效降低了缺陷检测复杂度.通过分析Linux开源代码表明,本模型可以快速的检测大规模程序,并且具有较低的误报率和漏报率.因此本模型可以帮助程序员发现进而修正软件缺陷,维护软件可靠性. 相似文献
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软件工程知识体SWEBOK是IEEE Computer Society与ACM于2004年联合推出的软件工程教育标准,SWEBOK的新版本V3即将推出。文章首先介绍SWEBOK V3制定的背景,然后分析SWEBOK V3与SWEBOK2004的不同,介绍SWEBOK V3中新增加的内容,最后指出SWEBOK V3与教育部正在实施的"卓越工程师教育培养计划"在目标和认识上是完全一致的。 相似文献
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针对现有薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)缺陷检测算法只能检测肉眼可见的缺陷,不能检测肉眼不可见的微米级缺陷的问题,首先提出一种基于局部图像模板匹配的图像配准方法,以实现亚像素级上的图像配准,提出基于差影法和亚像素级图像配准的TFT-LCD微米级缺陷自动检测算法,实现TFT-LCD微米级缺陷的快速自动检测.将该方法应用于实际TFT-LCD玻璃基板的缺陷检测上,检测结果表明,Array区电路的漏检率和错检率低于3%,Pad区电路的漏检率和错检率低于5%,能满足实际检测的要求. 相似文献
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针对CMAC网络在输入维数高、量化间距小、样本数量多的情况下导致虚拟存储空间过大的问题,提出一种改进的基于多维存储结构的B样条CMAC网络概念映射方法,无需增加虚拟空间到物理空间的hash映射,避免了地址碰撞问题,与其他映射方法相比,由于该方法只映射量化空间中少量的有规律的地址单元,使得该映射方法实际所需虚拟地址空间远小于其他方法,从而在存储空间受限情况下,可以显著提高网络的学习精度和泛化能力.仿真试验结果表明,在新的映射方法下,B样条CMAC比常规CMAC学习精度高,学习速度快,泛化能力强,对相同结构的B样条CMAC网络,新的映射方法在存储空间大小、学习能力和泛化能力等方面明显优于现有的其他方法. 相似文献
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为了满足代码分析对多语言静态信息提取的需求,克服当前构建单语言提取重用率低、过程复杂等不足,采用直接修改GCC特定解析阶段源代码的方法建立统一的提取接口.针对所需静态信息的不同,按CCC内部机制,提出了运行改入点与内部辅助函数重用相结合的提取方法,具体包括类型和函数声明信息的采集、函数体内程序语句的遍历以及多语言统一中... 相似文献
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RBF神经网络的混合学习算法 总被引:6,自引:0,他引:6
针对RBF神经网络的最近邻聚类学习算法存在的学习精度不理想和固定网络结构的梯度下降训练学习算法存在的中心不易确定、训练时间长等问题,提出一种基于最近邻聚类中心选取和梯度下降训练的RBF神经网络混合学习算法,解决了RBF网络径向基函数的中心取值问题,提高了网络的学习精度和训练速度.将该算法应用于非线性系统的在线辨识与二维函数的逼近,仿真实验结果证明了该方法的有效性. 相似文献
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镜面高光是由明暗恢复形状算法的重大障碍,但是对于单幅灰度图像,由于只包含亮度信息,现有以色度分析和极化分析为基础的高光检测方法均不能适用.为此,提出了一种利用表面形态分布信息检测图像高光的方法.首先,利用成像过程信息,对表面法向量进行估计;其次,基于物理光照模型,通过模拟退火算法最小化亮度误差函数,计算漫反射成分和镜面反射成分;然后,定位高光区域;最后,给出了基于曲率连续性假设的约束补色方法.通过对仿真图像和真实图像的高光检测及表面恢复,验证了提出的算法具有良好的稳定性,提高了镜面高光图像的表面恢复精度. 相似文献
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