ICP-AES法测定超基性岩石样品中的磷、锡、钒、铬、锰

应用电感耦合等离子体发射光谱法对超基性岩石样品中P、Sn、V、Cr、Mn的测定进行了研究;采用基体匹配法消除了大量基体的干扰,选择了最佳激发条件。该方法采用国家标准样品验证,结果令人满意,10次测定精密度小于5％。     

等离子体原子发射光谱法测定高纯碲锭中杂质元素的研究

报道了ICP-AES法测定高纯碲锭(Te-1)中杂质的方法。试样用王水溶解后,不分离基体直接进行ICP-AES测定。所选分析线经共存元素在分析线附近波长扫描。检验是否受到光谱干扰。发现了在经典谱线表中未栽明的Te182．2nm线翼对Pb182．203nm的干扰。除硫外,方法测定限(以15σ计)、精密度、回收率满足高纯碲锭的分析要求。     

ICP-AES法同时测定低合金钢中锆和铌

利用全谱ICP -AES(CID检测器 )分析技术 ,对试样溶解方法、元素分析谱线、共存元素干扰、背景校正、仪器分析参数 (射频发生器功率、雾化器压力和泵提升量 )等因素进行了研究 ,综合确定了最佳实验条件 ,并采用稀硫酸溶样后 ,经硫磷酸冒烟 ,直接进行试样前处理 ,建立了一种可同时测定低合金钢中Zr和Nb含量的简单、快速和实用的分析方法。结果表明 :本法测定钢中锆和铌含量的分析误差和精密度符合国标GB2 2 3 3 0 -94和GB2 2 3 3 9-94的技术要求 ,其检出限均为0.0 0 0     

ICP-AES法测定锰矿中多种组分

通过对试样溶解方法、分析元素谱线选择、基体背景干扰消除和仪器工作条件的研究,建立了一种碱熔、酸浸溶解试样,用电感耦合等离子体原子发射光谱仪对锰矿中TFe、SiO2、CaO、MgO、Al2O3、P、TiO2进行检测的方法。本方法准确、快速、成本低。     

ICP-AES法测定钢中微量钙

用电感耦合等离子体光谱仪对低合金钢中微量钙的测定方法进行研究 ,对分析谱线、试样空白、仪器参数、回收率等进行了试验讨论。在高分辨率ICP -AES仪上 ,于 3 93.3nm处直接测量 ,钙的检出限wCa =0 .0 0 0 2 % ,标准偏差为0.0 0 3 7%。无须分离基体或进行干扰校正。     

ICP-AES法直接测定70钛铁中V,Sn

建立了一个简捷、快速、实用的 70钛铁中V和Sn的电感耦合等离子体原子发射光谱 (ICP -AES)测定方法。避免了繁杂的分离富集手续 ,直接对 70钛铁试样溶液同时进行V和Sn的测定 ,试验了基体及共存元素干扰情况 ,优化了仪器工作条件。方法的检出限分别为DL(V) =0.0 0 0 2 % (质量分数 ) ,DL(Sn) =0.0 0 0 7% (质量分数 ) ;RSD小于 2 % ;V和Sn的回收率分别为 10 3.9%和 10 0. 5 %。     

微波消解等离子体光谱法测定高纯氧化铝中杂质元素

建立了微波消解等离子体发射光谱法测定高纯氧化铝中杂质元素的新方法。利用等离子体光谱仪的优异性能 ,通过对基体效应、光谱干扰、等离子体测定条件等方面的考察 ,确定了高纯氧化铝中微量元素Si,Fe ,Cu ,Mg的检测条件。各金属离子平均回收率为 93.8%～ 112 % ,相对标准偏差RSD为 1.3 %～ 8.1%。本方法可准确、快速、连续测定高纯氧化铝中的杂质元素     

ICP-AES法测定工业硅中10种杂质元素

研究了利用ICP发射光谱仪测定工业硅中Fe ,Al,Ca ,P ,Ti,Cu ,Zn ,Mg ,Mn ,Ni等 10种元素的方法 ,确定了各元素的检出限 ,回收率在 94%～ 10 5 %之间 ,RSD小于 3.5 % ,该方法用于样品测定 ,结果满意。     

ICP-AES法测定稀土(镁)硅铁中La和Ce

采用ICP AES法测定稀土(镁)硅铁中La和Ce含量,并对样品的溶解方法、基体及共存元素的影响、分析谱线进行了研究。方法简便、快速,精密度和准确度较好。     

ICP-AES法测定抗癌药物奥沙利铂中微量银、钯、镉

将试样先灼烧,HCl- HNO3溶解后,在20%盐酸介质中,用ICP-AES法直接测定抗癌药物奥沙利铂中微量银、钯、镉.对试样处理方法、元素分析谱线、基体铂的影响、背景校正、仪器分析参数等进行了研究,确定了最佳实验条件.测定范围为0.0005%～0.12%,加标回收率为96.4%～106.3%,相对标准偏差为2.53%～3.64%.方法操作简便、快速、准确.