JDeveloper10g：数据库里长出的咖啡豆

卡布奇诺苦涩中蕴含着淡淡的奶香，爱尔兰咖啡浓郁的香里飘散着威士忌的甘醇，每一种咖啡都有其独有的芳香。看一下世界顶级数据库厂商Oracle给我们准备的是怎样一种咖啡?这就是Oracle JDeveloper10g，让我们细细品味这杯来自Oracle的咖啡吧。     

AndroMDA：免费的MDA午餐

不经意间在一个有关Java开发技术的网站看到以下一段文字。     

基于动态分组的增量式挖掘关联规则更新算法

数据挖掘的一个重要方面是挖掘关联规则，目前已提出了包括经典算法Apriori在内的许多算法，而在实际关联规则的挖掘过程中，用户将需要不断调整用于描述用户兴趣程度的阈值：最小支持度和最小置信度。如何维护已发现的关联规则变得至关重要。该文提出的GIUA算法解决了在数据库D不变的情况下，最小支持度和最小置信度发生变化时关联规则的维护问题，最大效率地利用原有结果，通过动态分组将连接步和修剪步的循环减到最少，并尽可能地将挖掘过程并行化。     

一种基于电流电压序分量的模糊选相元件

在对2种传统的序分量比相选相元件的动作特性进行深入分析的基础上,针对在特殊故障情况下(弱电源侧故障和转换性故障),电流序分量可能存在的误判问题,提出一种基于电流电压序分量的模糊选相元件。该元件应用模糊逻辑的思想,将ΔI.1/I.2和I.0/I.2电流序分量比相选相元件与ΔU.1/U.2和U.0/U.2电压序分量比相选相元件有机地融合在一起,充分发挥了电流序分量比相选相和电压序分量比相选相元件各自的优势。该元件在原理上创新性地通过故障相区的比较来实现故障选相,不需要配合其它的判别方法,也不需要用户进行整定计算。仿真结果表明,通过合理地设置选相判据的权重及动作阈值,该元件不但可对一般故障类型的故障相别做出准确判断,而且在特殊故障情况下,也能实现正确选相,选相结果不受过渡电阻和系统运行方式的影响,具有较强的鲁棒性。     

一种并行化的分组关联规则算法

提出一种通过分组达到并行化的改进Apriori算法，研究了分组的构造以及分组后因连接步和剪枝步的简化而达到的效率的提高。对于算法中涉及的原理给予了完整的论证并结合实例给出了改进算法的实现步骤。结果表明，改进算法通过连接步和修剪步的简化大大地提高了规则发现的效率，并可以很方便地达到并行化。     

采用数学形态学防止变压器差动保护误动的新方法

为有效地防止变压器区外故障TA饱和引起的差动保护误动,该文提出了一种基于数学形态梯度实现TA饱和检测的新方法.与传统的“时差法”不同,该方法仅需要对故障发生时刻进行检测,不需要对差流出现时刻准确定位,通过对故障后的一小段差流波形进行适当变换,构造出新的电流波形,然后利用数学形态梯度进行处理,提取出电流波形特征,从而实现在TA严重饱和的情况下,对差动保护区内外故障的准确识别.新方法计算简单,快速可靠,EMTP仿真实验验证了该方法的可行性和有效性.     

剃齿啮合的接触特性分析及中凹误差形成机理研究

探索剃齿过程中接触特性对齿形中凹误差的影响规律,对研究中凹误差形成机理具有重要的理论和实际意义。基于弹塑性理论和齿面承载接触分析技术(Loaded Tooth Contact Analysis,LTCA),构建力学模型分析不同载荷条件下剃齿啮合接触特性,阐述了中凹误差形成机理。应用有限元法明确了不同载荷条件下的齿面接触应力及齿廓弹塑性变形区域的划分,并与剃齿试验相比较。结果表明:随着载荷的增加齿廓上塑性变形区域随非线性增大;齿根部位较之齿顶所受的应力和变形量更大,峰值出现在节圆附近的中部位置,该区域最易出现塑性变形,同时随着剃齿低周啮合,塑性变形量不断累积,齿形误差复映,最终会在齿廓上出现明显的中凹误差现象;有限元仿真的接触应力和弹塑性区域划分结果可靠,试验验证理论分析及研究结论正确。     

基于Ⅳ-Ⅵ族化合物的胶体量子点太阳电池研究进展

基于Ⅳ-Ⅵ族化合物的胶体量子点具有易于合成、带隙可调等优点,被认为是一种非常有前途的窄带隙光伏材料。近年来,利用Ⅳ-Ⅵ族化合物制作的胶体量子点太阳电池最高转换效率已经突破10%。介绍了胶体量子点的合成方法、基本结构及其光电特性;着重分析了国内外关于肖特基和异质结胶体量子点太阳电池的研究现状,指出了目前该领域研究中存在的问题和发展趋势,并分析了未来需要重点解决的关键问题。     

军用涂层材料的毫米波发射率测量

作者测量了常见军用涂层在Ka波段的发射率,测量对象包括：雷 达隐身涂层、雷达与高发射率红外兼容隐身涂层、雷达与低发射率红外兼容隐身涂层、高发射率红外涂层以及航空防腐涂层。测量试验采用了基于电压法的改进测量方案,该测量方法可以消除材料样品不能完全覆盖天线波束以及参考体与材料样品厚度差异导致的有效辐射面积差异引起的误差。此外,文章分析并讨论了主要的测量不确定度源。