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1.
TMS320F206是德州仪器公司定点DSP芯片中具有代表性的一种,在介绍其特点和中断技术的基础上,重点阐述了该芯片在软件开发过程中中断技术是如何实现的。  相似文献   
2.
随2015年国家"一带一路"政策的出台,中国装备走出去已成为了制造业关注的热点话题。而作为橡机行业主要下游企业的国内轮胎企业,受到国内产能过剩和国外"双反"抵制的双重困境已长期处于下滑阶段,在此背景下,国内橡机设备"走出去"就显得格外重要与必要。  相似文献   
3.
基于霍尔元件的自动测试系统电源管理模块设计   总被引:3,自引:2,他引:1  
针对武器自动测试系统测试过程的电源保护及管理自动化程度和精度不高的问题,提出1种基于霍尔元件及自动测试系统已有的PCI总线测试资源对自动测试系统的电源系统进行过流、过压、欠压保护及自动加载。给出了1整套自动测试系统电源管理模块的软硬件方案及改进测试精度的方法,通过设计电路模拟电源各种状态实验证明,该电源管理模块精度高,实时性好,能够准确判断电源的各种状态信息并进行相关处理,满足被测对象的测试的相关安全性要求。  相似文献   
4.
提出基于快速互相关算法的旋转变压器角度解算方法。采集略多于一周期的旋转变压器激励信号、定子正弦信号和定子余弦信号。利用四参数最小二乘法计算激励信号频率的精确值,用此频率构造一个任意幅值的正弦信号,将其与激励信号,定子正弦信号、定子余弦信号分别进行互相关运算滤除噪声。通过搜索除噪激励信号、定子正弦信号、定子余弦信号的最大值点和索引值得到信号的幅值和相位,再查表并计算出360°范围内的角度值。算法应用的通用性强。仿真和工程应用表明该方法有很高应用价值。  相似文献   
5.
为了实现自动测试设备开关阵列中多路信号最优路径的并行搜索,首先建立ATE开关阵列的矩阵模型,然后按输入/输出信号的属性构造分离矩阵,并使用分离矩阵将开关阵列的矩阵分离为属性矩阵,再以宽度优先(BFS)算法为基础实现单个属性矩阵的最优路径搜索算法。在此基础上,使用分离矩阵进行节点矩阵的还原,达到多路信号最优路径并行动态搜索的目的。验证结果表明:本文提出的算法能快速有效的进行多路信号的最优路径并行搜索。  相似文献   
6.
针对自动测试系统(ATS)软件通用程度不高,开发效率低等问题,提出了基于信号的通用自动测试系统软件框架的设计方法,利用统一建模语言(UML)描述系统功能需求、建立系统对象模型和动态模型,设计测试系统软件框架.重点阐述了框架模型元素之间的关系和测试信号接口模型设计.实践证明:以此框架为基础开发通用自动测试系统,速度更快、系统通用程度更好.相对于其它测试框架,此框架面向对象、面向测试信号,具有很好的重用性、可维护性和灵活性.  相似文献   
7.
通用数据采集系统的设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文给出了一种以控制单元为控制核心,以CPLD和A/D转换电路为执行单元的通用数据采集系统的设计方案。该系统能够分别对多路数字信号和模拟信号进行分时采集,并可对采集到的信号进行实时处理或保存,也可通过串行口将其送至PC机,进行后续分析处理。文章以P89C51单片机、EMP7128和AD574为例,详细阐述了系统硬件和软件设计原理,并对实际应用中可能出现的问题提出解决方案。本文立足于原理,对于不同应用场合可依据实际情况对其做相应调整,故具有较强的通用性。  相似文献   
8.
国内监视器或类似显示设备不能显示没有标准行、场同步特征的电视信号。本文以某进口设备输出的非标视频信号为例,介绍了如何获取其完整的行、场同步信号,并外接入计算机视频接口卡,实现了该非标准电视信号在计算机显示器上的正常显示。其中采用LM1881完成行场分离过程,行同步信号处理单元基于CPLD进行设计和实现。实际应用表明该方案获得理想显示效果。由于从视频显示基本原理着手考虑,该技术具有较强的通用性。  相似文献   
9.
在对控制舱电源频率以及控制舱反馈信号频率测试过程中时,传统测试方式对噪声、温度等电路干扰很敏感,精度难以达到要求。采用离散傅里叶变换插值分析法,先通过快速傅里叶变换分析信号的频谱,然后探讨了直接计算的误差来源和减小误差的常用方法,并选用插值方法来获得更精确的结果。最后,实验验证表明了测量结果在要求的精度范围内,可以满足使用要求。  相似文献   
10.
电子设备自动测试系统的环绕BIT设计   总被引:2,自引:1,他引:1  
胡彭炜  杨福兴  何玉珠 《电子测量技术》2009,32(12):137-139,143
介绍了环绕BIT设计原理,结合某型自动测试系统的结构特点,针对系统不同组成模块(通讯、AD、DA、DI、DO等)采取不同的环绕BIT设计处理方式,并采用流程解析的方法来简化BIT流程设计,实现了系统的机内检测。实验表明,设计满足该自动测试系统自检和故障隔离的需要,提高了测试效率,提供了可靠的维修策略和依据。  相似文献   
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