电子设备自动测试系统的环绕BIT设计

介绍了环绕BIT设计原理,结合某型自动测试系统的结构特点,针对系统不同组成模块（通讯、AD、DA、DI、DO等）采取不同的环绕BIT设计处理方式,并采用流程解析的方法来简化BIT流程设计,实现了系统的机内检测。实验表明,设计满足该自动测试系统自检和故障隔离的需要,提高了测试效率,提供了可靠的维修策略和依据。