激光表面粗糙度测量仪的研制

激光表面粗糙度测量仪利用半导体激光器为光源，激光束投射到试件表面经微观形貌调制而形成散射场，根据对散射场分布的处理测量表面粗糙度。接收半散射带的方法处理散射光分布，测量对试件的放置位置要求低（允许的最大倾斜度Ｘ向±２°，ｙ向±５°，测量距离偏差限为±２ｍｍ）；测量范围Ｒａ从０．００５μｍ到２μｍ，配置附件可对有特殊形面的试件和内表面的粗糙度进行测量．     

激光稳频技术的新发展

本文着重介绍精密计量行业中运用的Ｈｅ－Ｎｅ激光器的稳频技术，并综述了Ｈｅ－Ｎｅ激光器单模、双模稳频技术的现状和发展动向以及新兴的半导体激光器稳频技术．     

激光表面粗糙度检测装置

根据表面散射光角分布与表面粗糙度具有一一对应关系的原理，提出一种便携式的光辉表面粗糙度检测装置。它采用半导体激光器，光学纤维和更合理的光路结构，具有功耗低，抗干扰能力强，稳定性好，测量范围大，体积小，成本低等特点。     

计算机数控激光刻字系统

根据计算机数控（CNC）、激光（Laser）和信息处理等技术研制的计算机数控激光刻字系统能够在多种材料上切割出精美的汉字     

2A637卧式镗铣床数控技术改造

介绍了对2A637卧式镗铣床的数控系统进行技术改造的过程,改造后的数控系统在实践中使用效果良好。     

内表面粗糙度测量仪

应用光散射原理,采用半导体激光器做光源,光纤准直、光电二极管阵列接收信号,Ａ／Ｄ模数转换,单片机计算结果的内表面粗糙度测量仪,可无接触测量复杂开头工作的内表面,测量速度快,分辨率高,仪器体积小,且测量精度高。     

用PSD精确测量软质低反光材料

介绍一种适用于软质低反光材料检测的半导体激光位置探测器ＰＳＤ,用半导体激光器和位置探测器件及相关光学数控系统来测量软质低反光材料,进行无接触式高精度测量,被测件表面不损伤,无擦痕、不变殂,测量精度高、分辨率高。     

激光干涉轮廓测量技术的发展

本文介绍了激光干涉轮廓测量技术中最新研制出的五种同轴激光干涉轮廓仪：Huang的光学外差轮廓仪、Downg的双焦轮廓仪、Panter的外差干涉轮廓仪、Offside的干涉轮廓仪、周氏激光轮廓仪的原理及特性。     

便携式激光表面粗糙度测试仪

测量表面粗糙度的光学方法是70年代兴起的,由于它的非接触测量的特征面受到广泛关注。其中又以光散射衍最为引人注目:它具有面积采样、测量速度快,数量处理简便等优点。20多年来国内外学者进行了大量的研究,并已有仪器进入实用阶段。目前国内外广泛采用的方法是光强法和光强比法,这些方法的测量范量小:对被测表面的位置和材料极为敏感,因而抗干扰能力弱,而且大多采用He-Ne激光器作光源,使得仪器庞大,不能用于加工现场和推广使用。80年代中期国外提出散射光强度角分布与