聚丙烯腈基炭纤维的扫描隧道显微镜研究

用扫描隧道显微镜研究聚丙烯腈基炭纤维的表面结构以及经过电化学腐蚀、拉伸试验和高温处理后的表面变化。未处理的纤维表面由沿纤维轴向排列的宽度不等的带状细纤维组成。随着放大倍数增加，表面显得粗糙，细纤维上分布着许多小晶粒，另外，还发现了构面炭纤维的细纤维呈螺旋结构环绕、沿轴向伸长，经电化学腐蚀后，纤维内部仍存在螺旋结构，经过拉伸的炭纤维。在其临近裂的区域里，观察到扩展的孔洞及周围不均匀区。     

p-nitrobenzonitrile纳米有机薄膜的超高密度信息存储研究

采用扫描隧道显微镜（STM）在p-nitrobenzonitrile(PNBN)单体有机薄膜上进行信息记录点的写入研究。通过在STM针尖和高定向裂解石墨（HOPG）衬底之间施加一系列的电压脉冲进行信息记录点的写入,得到了一个信息点点径小于1nm,对应存储密度高达10^13 bit/cm^2的信息存储点阵,电流－电压（I－V）曲线表明,薄膜上非信息点存储区域是高电阻区,而信息点存储区域是导电区,具有0－1信息存储特性,PNBN单体有机薄膜的存储机制可能是规则排列的PNBN分子在强电场作用下由有序向无序的转变,使得薄膜的电阻由高阻态向低阻态转变,从而实现信息点的写入。     

用微波等离子体CVD制备C3N4薄膜

采用微波等离子体化学气相沉积法（ＭＰＣＶＤ）,使用高纯Ｎ２（９９．９９９％）和ＣＨ４（９９．９％）作反应气体,在多晶Ｐｔ（９９．９９％）基片上沉积Ｃ３Ｎ４薄膜。Ｘ射线能谱（ＥＤＸ）分析结果表明Ｎ／Ｃ原子比为１．０～１．４,接近Ｃ３Ｎ４的化学比;Ｘ射线衍射谱（ＸＲＤ）说明薄膜主要由β－和α－Ｃ３Ｎ４组成;Ｘ射线光电子谱（ＸＰＳ）、傅立叶变换红外谱（ＦＴ－ＩＲ）和喇曼（Ｒａｍａｎ）谱说明在Ｃ３Ｎ４薄膜     

聚丙烯腈基碳纤维的表面结构研究

用扫描隧道显微镜对经过电化学腐蚀前后的聚丙烯腈基碳纤维分别进行了观测分析，发现了一种有趣的螺旋结构。碳纤维表面是由沿纤维轴向排列的呈螺旋结构的细纤维组成的，螺旋伸展方向沿纤维轴向。用时这种螺旋结构也存在于碳纤维内部。最后对螺旋结构的形成进行了讨论。     

缩短结晶化时间 拓宽烧结工艺

通过调整原材料特性，从而缩短生产时间，是进一步提高生产能力的一种简洁、有效的手段。本文结合工作实际，简要介绍了拓宽工艺余度，提高烧结能力的方法。     

MPCVD合成β—C3N4晶态薄膜

采用微波等离子体化学气相沉积法（ＭＰＣＶＤ），以Ｎ２，ＣＨ４作为反应气体合成碳氢膜。通过控制反应温度，气体流量，微波功率，反应气压等工艺条件在Ｓｉ和Ｐｔ基片上，进行β－Ｃ３Ｎ４晶态薄膜的合成研究。扫描电镜下观察到生长在Ｓｉ基底上的薄膜晶有六角晶棒的密排结构。扫描隧道显微镜下观察到在Ｐｇ基底上生长的碳氮薄膜由针状晶粒组成。     

微晶纤维素超显微结构的扫描隧道显微镜研究

本文以微晶纤维素Ｓｉｇｍａｃｅｌｔｙｐｅ５０为材料，用扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）对其结构进行了研究，结果表明用ＳＴＭ可以直接观察到纤维素的基原纤丝（ｅｌｅｍｅｎｔａｒｙｆｉｂｒｉｌ），其直径为２—３纳米。从表面观察，微晶纤维素的基原纤丝平行排列在一起，其本身呈螺旋状，基原纤丝进一步聚合在一起，形成微纤丝（ｍｉｃｒｏｆｉｂｒｉｌ）。从横切面也观察到了基原纤丝的大小和排列。从纳米水平直接观察到基原纤丝的结构尚属首次，ＳＴＭ是观察纤维素超显微结构的有效工具。     

硬质合金WC－Co超细粉末的制备研究

以钨酸盐和钴盐为原料，采用化学沉淀法制备出了分散性好的钨-钴化合物超细粉末。以该粉末为原料，在Ｈ２和 含碳气体条件下，采用低温连续还原碳化工艺制备出了平均粒度为０．１ｕｍ左右、主相含量为ＷＣ－２３％Ｃ０（以质量计，下同）且游离碳少于０．１％的ＷＣ－Ｃｏ复台粉未。借助ＴＥＭ， ＸＲＤ和化学分析等手段研究了粉末的粒度和化学组成，探讨了影响Ｗ－Ｃｏ化合物粉末和超细ＷＣ－Ｃｏ复合粉末制备的关键工艺参数。     

电子束投影曝光装置实验结果分析

主要介绍了电子束缩小投影曝光机的工作原理及其特点，针对在原理论证机上做的实验，着重分析讨论了聚光镜电流的大小对曝光结果的影响。     

SrTiO3斜切基片上外延生长YBa2Cu3O7—δ薄膜的扫描探针显微镜研究

采用激光脉冲沉积法在钛酸锶SrTiO3（001）斜切基片上外延生长YBa2Cu3O7-δ薄膜，在大气环境下采用扫描探针显微镜对YBa2Cu3O7-δ薄膜的表面纳米形貌进行直接观察。发现YBa2Cu3O7-δ薄膜具有相对光滑的表面形貌，薄膜表面由沿SrTiO3台阶趋向外延生长的纳米台阶组成，薄膜生长模式主要以台阶媒体生长为主。