模拟电路结构化可测性设计研究综述

本文说明模拟电路结构化可测性设计(DFT)的原则,同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准IEEE P1149.4的基础。     

提高周期产生器工作速率和分辨力的方法

文章概述了周期产生器的主要性能指标，介绍了加（减）计数法周期产生的原理，提出了提高周期产生器工作速率的方法。介绍了以粗精组合方法提高周期分辨力的方法，分析了可控振荡法、软件累加法、硬件累加法构成高分辨力周期产生器原理。最后评价了周期产生器的应用。     

基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试

介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。     

提高周期产生器工作速率和分辨力的方法

文章概述了周期产生器的主要性能指标，介绍了加（减）计数法周期产生的原理，提出了提高周期产生器工作速炫的方法，介绍了以粗精组合方法提高周期分辨力的方法，分析了可控振荡法，软件累加法，硬件累加法构成高分辨率周期产生器原理，最后评价了周期产生器的应用。