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无线电
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2021年
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1
1.
一种物联网终端通用测试设备设计
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邓炳光
禹斯译
闵小芳
周维海
《电子器件》
2021,44(6):1327-1332
针对传统物联网终端测试设备功能单一、可靠性不足等问题,研制了一种通用测试设备。该设备基于ARM+FPGA+STM32架构进行设计,包括主控卡、输入卡、输出卡及电源卡4种CPCI板卡。测试设备通过不同的数据线缆外接多种物联网终端,可对物联网终端进行数字/模拟信号的采集和激励,并集成常见协议接口,能应用于大部分物联网终端测试项目。该项目已在某物联网测试系统里应用,验证了设备在不同终端测试项目下的通用性和可靠性。
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