吸附剂中氢含量的测定

本文用弹性反冲法分析了对二甲苯吸附剂中的氢含量。弹性反冲法是近年来发展起来的分析微量轻元素的方法。用2MeV左右~4He~+粒子与氢反冲,测定氢的能谱可以算出样品中氢的含量。     

β射线测距传感器的研制

本文报道了为测量火箭级间分离距离而研制的β射线测距传感器。结构是将β放射源和探测器面对面地分别安装在两级火箭上,把分离过程中探测到的粒子数转换成直流电压,送给遥测系统或磁记录器,便测出瞬时分离距离。当分离速度不超过2.5米/秒、所测分离距离在0～2米范围内,精确度可达10%;若超出此范围,测量精确度将会变差。地面实验和环境模拟试验表明该仪器适用于50公里以上的空间冷分离。     

用核反应法测定硅表面氧含量

简要介绍了用核反应~16О(d,P_1)~17О分析硅表面氧含量的方法。鉴别了集成电路制备工艺中对硅表面氧化层的清洗效果,给出了对硅表面自然氧化过程的观察结果。     

用核反应~(16)O(d,p1)~(17)O~*测量固体近表面区含氧量

为分析固体表面天然氧的含量,我们选用~(16)O(d,p)~(17)O反应。当氘束能量E_d≤1MeV时,可发生两种反应:~(16)O(d,p_0)~(17)O和~(16)O(d,p_1)~(17)O~*。由于后者反应截面比前者约大一个数量级,故选用~(16)O(d,p_1)~(17)O~*进行     

用弹性反冲分析法测定吸附剂中氢的含量

本文介绍用弹性反冲分析技术分析了对二甲苯吸附剂中的氢含量。首先测定已知氢含量的Mylar膜的原子比,实验结果与预期值一致。实验中用Kapton膜作为标样,测定了各种工艺条件的吸附剂中的氢含量,为实际使用提供了依据。 本方法在E_0=2MeV下,可探测深度范围为0.5μm左右,深度分辨率约为700A,灵敏度为0.1％原子数。