Al-Cu-Fe系初生准晶相凝固过程的电子显微分析

采用包括金相（OM），粉末X射线衍射（XRD），扫描电子显微镜（SEM）观察和透射电子显微（TEM）分析等方法，研究了铸态Al592.Cu36.8Fe3.0Si1.0合金（700℃保温2．5h后水淬）的显微组织及相组成。发现铸锭中存在4种相：准晶I相，τ3相（或φ相），θ－Al2Cu相和η－AlCu相，凝固过程可描述为：初生晶是准晶Ⅰ相；在保温过程中发生包晶或共晶反应（L＋i→τ3(或φ）或L→τ3（或φ）＋i)形成的τ3相（或φ相），呈微畴结构；而剩余液体水淬形成θ－Al2Cu相和η－AlCu 相。     

Al-Cu-Fe系初生准晶相凝固过程的热力学分析

采用XRD,SEM和TEM等方法,研究了铸态 Al58.8Cu36.6Fe3.5Si1.1合金(973K保温2.5h后水淬)的显微组织及相组成.观察到铸态样品中存在4种不同的相,即初生准晶I相、Φ相、θ-Al2Cu相和η-AlCu相.对准晶I相及其晶体近似相R相,提出相应的自由能计算模型及算法,从理论上说明准晶(Al61.89Cu25.61Fe11.10)I相是高温稳定相,当温度低于938K时,将形成其晶体近似相R相.     

考虑公平关切的双渠道供应链平台合作决策

为探讨制造商与转销型以及与代销型平台的合作问题,应用制造商主导下的Stackelberg博弈模型针对零售商具有横向、纵向和双向3种公平关切情况的供应链进行决策分析。以算例形式比较不同公平关切系数对供应链成员定价及利润的影响情况,进一步讨论制造商的平台选择策略。研究表明,零售商公平关切倾向并不总是有利于提高自身的利润;从绝对利润来看,横向公平关切越大,对于与转销型平台合作的制造商更有利;纵向公平关切越大,制造商与代运营型平台合作更有利。从相对利润来看,高横向−低纵向公平关切下,制造商倾向于与转销型平台合作;低横向−高纵向公平关切下,制造商倾向于与代销型平台合作。     

热处理对La_(0.9)Nd_(0.1)(NiCoMnAl)_5电极性能的影响

研究了热处理对Ｌａ０．９Ｎｄ０．１（ＮｉＣｏＭｎＡｌ）５电极材料结构、成分、脱氢压力－组成等温曲线（ＰＣＴ）、循环寿命的影响。Ｘ射线衍射结果表明热处理降低了评价主相峰的半高宽（ＦＷＨＭ）平均值，即降低了晶格应力。采用ＪＳＭ－８４０能谱分析仪对热处理前后合金成分进行分析，发现热处理使得合金中的Ｌａ、Ｍｎ向晶内扩散，而Ｎｉ、Ｃｏ、Ａｌ却向晶界偏聚。测定了室温下热处理前后的合金脱氢ＰＣＴ曲线及其电极循环寿命曲线，结果表明热处理使电极放电容量有所降低，同时却又使电极循环寿命有所提高，并且还降低了合金平衡压。     

金属单晶和多晶电子通道花样的观察与分析

金属单晶和多晶电子通道花样的观察与分析孙丽虹，刘安生，张启海（北京有色金属研究总院１０００８８）关键词：扫描电镜，电子通道花样，金属单晶与多晶１９６７年英国人Ｃｏａｔｅｓ［１］首次用扫描电镜在硅、锗等单晶中观察到电子通道花样（ＥＣＰ），开拓了扫描电镜...     

电子通道花样的晶体学标定

从扫描电镜中电子通道花样的特征及形成机理的分析提出可用单晶选区电子衍射花样的标定方法对电子通道花样进行标定。给出了用这种方法对电子通道花样进行晶体学标定的具体步骤以及实际花样的标定结果。     

Si3N4基微米/纳米复合陶瓷微观组织＊

用扫描电镜和透射电镜研究纳米粉成分和含量对Si     

扫描电镜背散射装置及数据处理系统

电子背散射衍射装置是获取材料的亚微米的范畴晶体学信息扫描电镜附件,此装置在观察材料的形貌及分析成分的同时研究材料的取向关系。本文介绍了背散射衍射接收系统,该系统的CCD以快速方式接收的灵 为5mlux,积累方式接收的灵敏度为10μlux,分辨率为512dpi,扫描卡最高的分辨率为4096X4096。并成功地安装在北京有色金属研究总院JSM－840扫描电镜上,此系统设计合理,结构简单,操作方便安全。同时根据Hough变换的原理,编写了识别电子背散射衍射花样的软件,实现了全自动实时识别此花样,给出相应的数据。     

铋系银包套高温超导多芯带材的显微组织结构

采用粉末装管法制备了Ｍ２７（２７芯）,Ｍ１９（１９芯）六种铋系银包套高温超导多芯带材,利用标准四引线测量其电学性能临界温度（Ｔｃ）和临界电流密度（Ｊｃ）,利用高分辨电子显微镜,配有能谱仪的透射电子显微镜和扫描电子显微镜研究其显微组织结构。     

半导体化合物Hg_（1－x）Cd_xTe中x值的测定

半导体化合物Ｈｇ_（１－ｘ）Ｃｄ_ｘＴｅ具有大的光学吸收系数，适于制波长为８～１４μｍ的红外探测器。由于禁带宽度随化合物的组分而变化，在Ｈｇ_（１－ｘ）Ｃｄ_ｘＴｅ中ｘ值的变化对红外探测器的性能有根大影响。本文用配有ＴＮ－５５００能谱仪的ＪＳＭ－８４０扫描电镜测定此化合物中不同试样的ｘ分布值。用从实验中得到的镉的重量百分比计算出每种试样２５个点的ｘ值、ｘ的平均值及均方差，测量误差为４．５％，ｘ平均值的计算结果与用Ｘ荧光方法测量的ｘ值一致。