用衰减全反射方法测量介质薄膜的消光系数

本文介绍了测量介质薄膜消光系数K的衰减全反射方法。计算表明,K可测至5×10~(-5)。它适用于介质薄膜的弱吸收测量。氧化物薄膜,如氧化锆、氧化钛等实测的消光系数为K=2×10~(-4)。本文还讨论了影响测量灵敏度、精度的因素。由测得的S—和P—偏振光的反射率Rs和Rp同时确定薄膜的消光系数K和厚度d。     

DF型透反仪的原理误差

DF型透反仪的原理误差来源于硅光电池有效内阻(主要是漏电导)的变化,实验表明,该漏电导与光强成正比。为了保证仪器的误差小于5×10~(-4),首要的条件是硅光电池在无光照下的有效内阻要大于10~6Ω;其次,两个硅光电池在有光照下的内阻要尽可能保持一样。     

利用椭偏仪测量波片特性

波片是一种常用的光学元件,特别是1/4波片和1/2波片在光学仪器中起着重要的作用。波片有两个主要参数;快轴和慢轴透射光之间的位相延迟角Δ和快轴和慢轴振幅透射系数之比R。对于理想的1/4波片;R=1,Δ=90°。许多测定波片参数的方法均是以测量一定偏振方位下的光的强度为基础的,故在测量中对光源的稳定性和光电接收器的线性、暗电流     

透明薄膜光学常数的椭圆偏振测量

本文叙述了用椭园偏振法测定透明薄膜厚度和折射率的原理,提供了一个计算程序。实验结果表明:折射率和厚度的测量误差分别小于0.5%和10A。     

用椭圆偏振法检测真空镀膜机的返油量

本文叙述用椭圆偏振法检测镀膜机返油的原理。采用镀有四分之一波长厚度的单层氧化薄膜的玻璃基底,可以检测到等效平均厚度小于1埃的油层。本文报告了对DMD-450镀膜机的测试结果。     

用量热计测量薄膜的弱吸收

任何介质均非完全透明,或多或少存在有损耗,包括吸收和散射损耗。膜层的吸收是引起薄膜激光损伤的主要因素之一。为了研究光学薄膜的总的光学损耗,要求分别测出吸收和散射。传统的光度法测量无法分开散射和吸收。而激光量热计技术则是较理想的技术。所谓激光量热法,就是将激光照射在样品上,然后测量样品的温升,同时测出一些必要的参数,以求出吸收值。这种方法能直接测出吸收值,而不需用一已知吸收率的样品定标,并具有高的灵     

吸收薄膜光学常数的偏振测量

本文叙述用内、外偏振测量结合的方法同时测量吸收薄膜的折射率,消光系数和厚度。并且提出了修正玻璃表面层误差的方法。     

电力宽带综合业务数字网的组网技术选择与建设

阐述了电力系统的业务需求与发展 ,说明了电力专用通信网的现状并分析了存在的主要问题 ,重点分析和比较了 SDH技术、ATM技术和 IP技术的特点及应用 ,提出了电力系统组建宽带综合业务数字网的几个可行的技术方案。     

旋转元件式自动椭圆偏振仪

旋转元件式椭圆偏振仪,是一种光度式椭偏仪。它不采用消光原理而以测量椭圆偏振光的强度为基础,利用计算机求出偏振参数ψ、Δ,因而具有较高的测量速度。旋转检偏器时,不能测定Δ的符号,但是可运用于不同波长的测量。旋转四分之一波片时则是一种完全的椭偏仪,能唯一确定Δ,ψ值。本文介绍了利用旋转四分之一波片式椭偏仪对蒸发中的介质膜进行实时测量的结果。     

垂直绝对反射率计的结构原理

本文介绍一种测量垂直入射条件下光学薄膜元件绝对反射率的反射率计。该装置使用了一个可转动的分束镜和一个补偿镜,在测量中不需要用标准参考样品。文中详细分析了读仪器的各师主要误差。该仪器的测量准确度可达±0.2％。