表面修饰纳米SiO_2/XLPE的电导电流和空间电荷特性

为研究纳米颗粒表面修饰对纳米二氧化硅/交联聚乙烯(SiO2/XLPE)电导电流和空间电荷特性的影响,分别将未经表面修饰和经钛酸酯偶联剂TC9修饰的纳米SiO2颗粒添加到XLPE基体中进行了实验。显微观测和成分分析表明,TC9的非极性有机官能团取代了纳米SiO2颗粒表面的羟基,降低了羟基间的相互成键作用,从而改善了纳米SiO2与XLPE基体之间的相容性,纳米SiO2颗粒在XLPE基体中的粒径范围从几十到100 nm;同时,TC9表面修饰提高了纳米SiO2/XLPE复合介质的介电常数和介质损耗,降低了电导电流,抑制了空间电荷的注入;而未经表面修饰的纳米SiO2/XLPE复合介质的电导电流和空间电荷特性相较于XLPE并未得到改善。分析认为,由于经TC9表面修饰的纳米SiO2分散性的改善,增大了纳米颗粒与XLPE基体之间的界面区域,因而在纳米复合介质内产生了更多的深陷阱;电极与介质界面附近的大量深陷阱捕获注入的电荷,形成固定的空间电荷层,降低了其与电极间的局部电场,从而提高了注入势垒,抑制了空间电荷的进一步注入。     

不同串间距下双串并联绝缘子冰闪特性及其比较

为研究直流电压下大吨位绝缘子双串并联覆冰闪络特性,针对CA 785EX绝缘子进行不同串间距下的电场仿真分析,并开展不同污秽度下单I串和双串并联人工覆冰闪络试验。通过分析高速摄影仪拍摄的电弧发展过程,揭示覆冰条件下串间距对双串并联绝缘子冰闪过程、冰闪电压及泄漏电流的影响。结果表明,双串并联时电场会发生不同程度畸变,冰闪过程中电弧发展和泄漏电流呈一定规律性;不同污秽条件下,串间距的影响程度不同;当串间距≥600 mm时,串间距对双串并联绝缘子冰闪电压的影响不显著。研究成果为绝缘子选型配置提供了理论支撑。     

染污绝缘子盐分迁移对其覆冰状态及泄漏电流的影响

基于冰水相变过程中的盐分迁移原理,对不同电导率的覆冰水进行覆冰试验,在覆冰完成后表层冰融冰水电导率约为覆冰水电导率的2倍。而且随着覆冰水电导率的增大,表层融冰水电导率较覆冰水电导率提高的倍数越大。通过分析相同覆冰水不同盐密下的绝缘子带电覆冰,发现高盐密下绝缘子冰棱增长速度较慢,持续时间较长。为了对比不同盐密和不同电导率覆冰水对覆冰绝缘子串闪络特性的影响,提出等值含盐量的观点。通过500 kV交流绝缘子串进行带电覆冰试验,结果表明低盐密高电导率覆冰水的闪络电压较低,闪络前出现大泄漏电流的数量也较少。