基于ATML标准族的面向信号软件平台研究

文章介绍了ATML标准族给测试带来的便利,研究了基于ATML标准族的面向信号软件平台的分层和每层会用到的ATML实例文档及文档中的主要信息,并分析该软件平台如何提高TPS的可移植性和仪器的互换能力。     

基于STD标准的自动测试系统软件平台研究

文章首先分析了STD标准中的信号分层和继用关系;然后给出了面向信号软件平台的结构组成,并论述了各个组成构件的功能及构件间的相互关系。文中给出的软件平台结构具有良好的模块性和可维护性,对工程应用具有重要的指导意义。     

基于有色Petri网和IPSO的并行测试系统任务调度研究

并行测试以减少测试时间和降低测试成本的强大优势成为下一代自动测试系统ATS发展的热点;针对ATS中并行测试任务调度复杂、难以优化问题,提出了一种有色Petri网和改进粒子群优化(IPSO)算法相结合的任务调度优化算法;采用有色Petri网建立并行测试系统模型,得到并行测试的动态特性;采用IPSO算法搜索最优的任务调度路径,得到以测试时间最短为目标的最优任务调度方案;最后,将该算法应用到某型雷达电路板并行测试系统中,研究结果表明,与遗传算法GA相比,该算法效率更高,更利于工程应用。     

基于MCU的LXI B类接口模块设计

在LXI C类接口模块的基础上,设计了基于MCU的LXI B类接口模块.设计中重点解决了基于IEEE1588协议的LXI精密时钟同步问题.在模块设计中采用了FPGA对时间信息加盖时戳,以提高系统的定时精度.该模块可以与传统仪器组合,构成低成本、高性能的LXI仪器.     

通用模拟器中DDS相位截断杂散谱分析及抑制研究

测试通用模拟器为新一代自动测试系统(Automatic Test System,ATS)的重要组成部分;通用模拟器的基带信号由任意信号发生器提供,直接数字合成器(Direct Digital Synthesizer,DDS)是信号发生器的核心部件之一;DDS具有频率分辨率高、频率捷变等诸多优点,但其缺点是杂散抑制性能较差,而相位截断误差是DDS输出信号误差的主要来源;针对相位截断误差问题,阐述了DDS基本原理,分析了DDS相位截断杂散信号,提出了一种抑制DDS相位截断杂散信号的方法;MATLAB仿真结果表明,该方法能够有效抑制相位截断误差。     

基于免疫模型的故障诊断方法及应用

提出一种基于人工免疫模型的故障诊断方法。根据免疫系统机理构建模型框架,模拟T细胞和B细胞功用,分别设计模型中的T模块和B模块。T模块采用实向量阴性选择算法生成异常检测器,完成系统的异常状态检测;B模块响应系统实际状态,运用聚类原理动态进化,形成告警信息反馈至T模块。2个模块相互作用,共同实现系统状态的在线实时检测。应用结果表明,该模型具有正确性和有 效性。     

自动测试系统并行测试软件技术研究

针对新一代自动测试系统的并行测试,首先论述在硬件结构设计时,以串行测试架构为基础,改进测试资源和硬件接口模式,以满足并行测试对硬件结构的需求;然后,重点研究在软件设计时采用多进程/多线程技术来实现并行测试,并提出了运用内存映射、消息传递、TCP/IP协议和DLL等多种技术解决多进程间的测试资源和数据共享问题;给出了相关应用实例,可用于指导并行自动测试系统的软件开发;在工程应用中,可根据实际需要,采用其中一种或多种技术的组合.     

串行总线合成仪器设计与实现

设计了1种VXI总线接口的串行总线合成仪器.该仪器以FPGA为核心,分别开发了符合1553B、ARINC 429和UART协议的软件核,根据测试需求可将上述软件核动态配置于1块C尺寸的VXI模块中,实现3种不同协议数据总线传输条件下的测试.根据不同总线的电平特点,设计了相应的接口适配电路,将FPGA的逻辑电平转换成总线...     

开关电源的故障预测及电解电容器退化研究

高效率的电源变换器广泛应用于航空电子系统,电源的故障会导致整个系统的崩溃,严重影响军用飞机的战备完好性目标。电子系统故障预测可以在故障发生前,有效地探测潜在故障,减轻损失。阐述了Buck型开关电源基本工作原理,介绍了其故障模式及物理失效模型,并详细阐述了电解电容器等效电路模型。通过仿真电解电容器的退化过程,得到开关电源的输出响应特性,表明了电解电容器退化对电源特性的影响.通过辨识电解电容器ESR的值,可以有效评估电容的健康状态,实现开关电源的故障预测。     

并行自动测试系统中测试资源控制方法研究

为了实现自动测试系统的并行测试,对测试系统中测试资源的硬件连接和软件控制方法进行了研究;提出了采用资源管理内核程序集中控制测试资源的方法,解决了不同测试程序间测试资源的共享问题;对本身不支持并行测试的测试资源,硬件上采用并联连接方式,或在软件上对其控制方式与驱动程序进行修改,使其支持并行测试,从而实现整个测试系统的并行测试;文中提出的方法已成功应用于工程实践中,可实现任意三种不同型号的电路板的并行测试,节约了测试时间,提高了测试效率.