高氧浓度下大气压Ar/O_2脉冲介质阻挡放电频率特性数值研究

使用一维流体模型,研究了高氧浓度(1.0%~5.0%)下大气压Ar/O_2脉冲介质阻挡放电的频率(100k Hz)效应。在所考虑的氧浓度和频率范围内,计算了放电电流密度以及四种(O、O(~1D)、O~2(~1Δg)、O_3)活性氧粒子产生与消耗的主要路径及其贡献随频率的变化。结果表明,一个电压脉冲周期中均发生两次极性相反的放电,并分别发生在外施电压脉冲的上升沿和下降沿。不同氧浓度下,第一次放电与第二次放电的放电电流密度峰值均随着频率的增加先减小后增大,即存在最小值,相应的频率定义为特征频率,并获得了二特征频率随氧浓度的变化。另外,在氧浓度为3.0%时,给出了四种活性氧粒子产生与消耗的主要路径及其在不同频率下相应的贡献。     

基于堆栈操作的电流互感器铁芯磁化模型

可靠的电流互感器铁芯磁化模型对于铁芯的剩磁和饱和问题研究具有重要意义.文中建立了一种基于堆栈操作的新型电流互感器铁芯磁化模型.归纳分析了铁芯磁化的规律,对磁化曲线进行了分类,根据磁场强度H的变化和压栈、出栈操作来确定铁芯磁化曲线的类型,系统地给出了计算相应磁通密度B各类曲线的B-H关系式,仿真结果与实验的比较验证了模型的准确性.     

一类高阶非线性动态系统周期解的逆算符表达

基于等效小参数法基本思想，应用分解法原理，通过引入逆算符和选择合适的线性与非线性算子，建立了一类非线性动态系统周期解的逆算符表达的递推算法，并利用Mathematica计算机代数语言开发出相应的软件系统，实现了该算法的计算机自动求解。利用该软件系统，可方便快速地求出周期解的解析表达式。文中给出了计算实例，并将算法所得结果与四阶Runge—Kutta数值方法的计算结果作了比较。理论和实例计算结果表明，该软件系统通用性强、精度高，是进行某类非线性动太民电路分析和计算的有力工具。     

单相Boost功率因数校正电路优化及仿真

对单相Boost功率因数校正器进行了设计和仿真研究.对电路的电压环及其脉动补偿电路、输入滤波器进行了仿真研究和参数优化.脉动补偿电路及优化的电压环使输出电压纹波显著减小,并改善了电路动态性能.优化的输入滤波器在保持电路稳定的同时获得了较高的功率因数并给出了纹波几乎为零的理想输入电流,建立了一个基于saber的优化的功率因数校正电路仿真模型.     

单相Boost功率因数校正电路优化及仿真

对单相Boost功率因数校正器进行了设计和仿真研究。对电路的电压环及其脉动补偿电路、输入滤波器进行了仿真研究和参数优化。脉动补偿电路及优化的电压环使输出电压纹波显著减小,并改善了电路动态性能。优化的输入滤波器在保持电路稳定的同时获得了较高的功率因数并给出了纹波几乎为零的理想输入电流,建立了一个基于saber的优化的功率因数校正电路仿真模型。     

线性系统状态方程的逆算符解

应用逆算符理论方法解线性系统状态方程，给出ｍ项逼近解的算符表达式，该逼近解具有解分量的可推导性和递推关系，易于计算机程序实现和求解，可以任意高阶精度逼近真解，是分析线性系统的可行和有效方法．文中给出计算实例．     

keV低能束作用下固体BSEs角分布

应用蒙特卡罗方法,对不同能量低能电子作用下元素固体Al,Cu,Ag,Au的背散射电子角分布及其与其他分布的关系作了模拟．计算分析了背散射电子角分布随能量及原予序数的变化,不同出射角区背散射电子在固体中发射深度分布,能谱及表面空间分布.结果表明背散射电子角分布随能量降低偏离余弦分布时发射规律的变化,小出射角区背散射电子强度增大主要来自样品浅表层大角度背散射产生的低能损背散射电子增加,且具有较好表面空间分辨率．     

一类二阶非线性系统周期解的逆算符表达

基于摄动法基本原理 ,应用逆算符方法 ,给出一类二阶非线性系统周期解解分量逆算符表达递推算法 ,并实现了这一算法的数学机械化求解 文中给出了算例 ,计算结果与Runge kutta数值方法的进行了比较     

分解法求解非线性系统状态方程及其应用

利用分解法求解非线性系统状态方程,推导出相应的算法。给出计算实例,并用四阶龙格库塔方法进行比较,说明分解法比龙格—库塔方法具有更高的精度和更快的收敛性,该算法具有很大的普适性,是解决非线性系统计算问题的有效方法。     

Monte Carlo方法模拟背散射电子固体表面空间分布

应用Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ方法模拟低能电子在固体中的散射过程；电子的弹性散射用较严格的Ｍｏｔｔ截面计算；非弹性散射分子为等离子激发、导带电子激发及壳层电子激发并由Ｑｕｉｎｎ，Ｓｔｒｅｉｔｗｏｌｆ及Ｇｒｙｚｉｎｓｋｉ的截面描述，对不同能量低能电子作用下不同元素固体中背散射电子、低能损背散射电子表面空间分布作了计算，结果表明低能损背散射电子具有较好的空间分辨率，这对改善背散射电子图象以及电子束曝光检测