基于结构光的铁路扣件缺失高速探测方法

为了解决高速铁路扣件缺失的快速在线探测识别要求,提出了一种新型的结构光方法,由激光光源产生多条线结构光,在扣件区域产生平行光条,用德国AVT高速工业摄像机GE-680C实时获取扣件区域图像.当光源投射方向与CCD摄像机拍摄方向成一定角度,铁路扣件会遮挡光线,从而摄像机可以获得不连续光条的图像.经图像预处理去除噪声信号后...     

基于计算机视觉的大尺寸矩形框架测量系统

在基于计算机视觉的大尺寸矩形框架形状测量中,通过在若干个特征点上设置人工标志,借助对标志的定位获取离散特征点的位置进而拟合出整个框架的形状位置信息.在理论分析的基础上,为降低处理系统的运算量、实现高精度定位同时抑制环境光干扰,在光学系统中加入主动照明光源、逆反射材料及窄带滤光片,在软件系统中采取了两步定位架构,最后进行...     

基于光声光谱法的无创血糖检测原理研究

利用光声光谱法无创血糖检测原理,以葡萄糖粉末和葡萄糖水溶液为样品、用调制激光作为信号激发源进行试验研究。可得到各个调制频率对应的光声信号幅值,进而得到光声信号幅值大小和调制频率的关系,最终找到葡萄糖粉末对应的最佳调制频率。在最佳调制频率下,测试葡萄糖水溶液,得到声信号随葡萄糖浓度增加的变化关系。实验不但找到葡萄糖对应的最佳调制频率,而且得到光声信号随葡萄糖浓度增加的线性关系,验证了光声光谱法在无创血糖检测中的可行性,为光声光谱法应用于无创血糖检测提供了一定参考价值。     

ICP时序型单道扫描Kalman滤波法直接测定高纯氧化镨中的稀土杂质

本文以Ｋａｌｍａｎ滤波法在时序型ＩＣＰ单道扫描光谱仪上直接测定了氧化错中的痕量稀土杂质，并以该法校正了基体的光谱干扰和被测元素之间的相互干扰，考察了该方法的检出限，测定结果与干扰系数法基本一致，该法谱线选择自由，适合高纯稀土试样中杂质的直接测定。     

锅筒吊装与钢结构的加固处理

在锅筒吊装就位施工中,紧紧围绕关键环节开展工作,明确吊装方法与步骤,对加固处理的钢结构进行科学核算,保证吊装作业的顺利完成。     

激光透射法磁珠浓度测量系统

磁珠广泛应用于免疫检测、细胞分离等生物实验中,磁珠浓度的检测对于评价实验效果具有重要意义。本文提出了基于激光透射法的双光路磁珠浓度测量系统,通过测量入射激光强度与透射激光强度的比值来确定磁珠浓度。利用该系统对多个浓度的磁珠悬浊液进行了实验测量,每个浓度下测量多组实验数据,共采集了8 000组数据。通过拟合测量数据,建立了磁珠浓度与测量值的关系函数,二者呈现指数函数关系,拟合残差平方和为0.000 088 89,确定系数可达0.997 1,说明函数具有良好的拟合性能。实验结果表明,相对测量误差在2.5%以内,输出值相对波动范围在2.5%以内,测量系统具有较高的测量精度和良好的重复性。     

具有亚像素级定位精度的激光三角测距新算法

在以CCD作为探测器的激光三角测距系统中，测距精度主要取决于激光光班在CCD上成像的定位准确性。本文提出一种光斑定位的新算法，采用光班附近一定区域内的所有节点分别进行插值，并分别赋于不同的权值，然后进行加权平均，最终得到光斑的准确位置。该算法充分利用了光班附近的众多信息，避免了单个节点对定位精度的影响，显著提高了定位精度和稳定性。实验证明，可以达到1/10像素定位精度。     

规则目标边缘的自动瞄准方法研究

瞄准系统是视觉检测系统的重要组成部分。为了实现对规则目标的自动瞄准,提出一种基于曲线拟合方法的“电子准星”技术,实现规则目标边缘的自动瞄准。实际测试表明,该瞄准方法的重复定位精度可达1/10像素。     

地籍信息系统图形数据建库及其精度问题研究

论述了建立地籍信息系统（Cadastral Information System简称CIS) 过程中的图形（空间）数据建库等问题,并对空间数据的精度及其质量评定模型进行了讨论,从精度和数据共享的角度概括了数据采集和在CIS中建立空间数据库的一些方法。另外还简要描述了基于空间数据库和地理信息系统（GIS）平台的CIS的结构;为了详细说明GIS和空间数据库的关系,本文给出了一个典型的CIS的例子,并进行了说明。     

可自适应位移变化的玻璃厚度激光三角测量方法

传统的激光三角法测量玻璃厚度时,玻璃与测头的相对位置需保持固定,每当玻璃位置移动时,均需重新标定才能进行准确测量。针对这一问题,提出可自适应位移变化的玻璃厚度激光三角测量方法,玻璃在不同位置时均可以直接对玻璃厚度进行测量。首先分析当玻璃位于基准位置时,其前、后表面反射光的成像光斑间距与玻璃厚度之间的关系;其次分析当玻璃位移变化时,成像光斑间距与玻璃前表面位置、玻璃厚度之间的关系,建立数学模型,并相应地提出修正算法来消除玻璃位移变化对厚度测量的影响;最后设计了基于激光二极管-互补金属氧化物半导体(LD-CMOS)的激光三角测量系统,并采用多块已知厚度的玻璃样本进行标定和测量实验。实验结果表明,当玻璃位置在1~4.5 mm的范围内变动时,不同位置处玻璃厚度测量的绝对误差小于0.010 mm,并且相对误差均在0.5%以内。该方法实现了玻璃在不同位置时对玻璃厚度的高精度测量,无需重复标定,具有很好的实用性、灵活性和通用性。