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微动磨损是造成电触点失效的主要原因之一。本文以镀SnPb合金的接触对为代表研究微动幅值和微动频率对微动失效的影响机理。在一定的实验条件下,微动频率对微动失效的影响并不是单调的,存在最易引起失效的频率,其与材料氧化和磨损特性有关;微动幅值对微动失效的影响呈单调趋势,幅值越大,微动失效越快;绝缘氧化物的堆积造成接触电阻升高,由于滑道中部Sn的氧化比端部充分,因此在整个滑道内Sn/O值呈中间低、两端高的趋势。 相似文献
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电触点失效严重影响电子产品的可靠性。电触点表面污染物的高接触电阻特性是造成连接器失效的重要原因。对某失效连接器污染接触区进行X射线能谱及红外光谱分析,发现表面污染物除无机尘土颗粒外还存在有机化合物乳酸及其盐。建立尘土颗粒与有机污染物共同存在下的触点接触模型。分析有机污染物在触点界面间的存在方式和作用力,确定有机污染物通过粘着作用将尘土颗粒固定于接触区内,并在触点微动过程中造成电接触故障。讨论影响粘着力数值的相关参数,并进行粘着力的对比试验。初步测定存在一个乳酸钠膜层厚度,使粘着力最大。 相似文献
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触点镀金材料的自然腐蚀和电接触特性研究 总被引:4,自引:0,他引:4
由于国内环境污染严重,镀金表面经过长期室内自然暴露后生成了大量呈岛状离散分布的腐蚀物。腐蚀物由处于中心的腐蚀核及环绕的腐蚀晕圈组成,腐蚀核下是微孔。在镀金表面的腐蚀物上进行微动试验,发现较薄的腐蚀晕圈同样会造成高且波动的接触电阻,随微动周期增加,腐蚀物被推开后电阻降低。加大接触正压力,初始接触电阻降低,波动减弱,较少微动周期后电阻降为正常值。由于腐蚀晕圈远大于腐蚀核在表面覆盖的面积,因此腐蚀晕圈上的高电阻及其不稳定性造成电接触失效概率大大提高。 相似文献
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介绍了8路恒流/恒压电源的工作原理和设计特点。同时,介绍了利用高精度、高密度PCI卡控制8路电源恒流/恒压输出的计算机实现过程,包括电源的软硬件设计、技术指标测试及相关的CE认证。此电源采用四点法测试微动系统中8路接触对动态接触电阻提供恒流输入。 相似文献
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分析了便携式通讯终端中PCB镀金电触点的表面磨损情况。连接器簧片与PCB触点之间相对运动造成的磨损加剧了污染,是造成接触失效的主要原因之一。磨损过程为先粘结再擦伤,最后镀金层被磨穿。磨损碎屑被逐渐推到磨损区端部与尘土、摩擦聚合物混合聚集在一起。触点表面磨损的主要方向和磨损区尺寸取决于触点的配合结构。研究结果为建立便携式通讯终端中镀金电触点失效模拟奠定了基础。 相似文献
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手机中电触点的失效分析 总被引:3,自引:0,他引:3
周怡琳 《北京邮电大学学报》2006,29(1):69-72
研究了大量失效手机中的镀金触点后发现,触点表面污染是造成电接触故障的主要原因之一. 污染物形貌复杂,且主要集中在印制电路板的触点一侧,成分涉及C、O、Si、Al、S、Cl、Na、Ni等很多元素. 污染物来自于环境中的尘土和微动磨损. 采用图像处理技术计算污染物覆盖面积百分比,划分触点污染程度为5级. 污染等级越高,污染物平均厚度越厚,磨损区范围越大. 污染触点上的接触电阻60%超过设计标准,最大接触电阻达4?Ω. 电接触不可靠造成手机可靠性下降. 相似文献
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大气中尘土颗粒是导致电接触故障的主要原因之一。通过以云母颗粒为研究对象;对云母颗粒静态、动态电触点失效机理进行理论分析;采用微动实验研究云母的形状、尺寸参数对电接触可靠性的影响。结果表明云母的片状形状使云母颗粒更易进入触点界面,面积大的颗粒造成静态电阻失效概率高,厚度小的云母导致电触点微动失效更严重。 相似文献
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由于电子产品是不完全封闭的,容易受环境的影响而造成电接触故障。研究自然失效手机内部尘土的分布特性和尘土尺寸范围,为尘土测试的模拟建立参考;同时,分析经振动加速尘土实验后手机内部的尘土分布特性,与自然失效手机内部尘土分布特性进行对比,指出现有加速实验方法存在的不足。 相似文献