基于BEPCⅡ数字束流位置测量系统电子学系统的设计与实现

BEPCⅡ加速器的束流位置测量系统（BPM）模拟电子学经过十余年的运行逐渐老化，故障率上升，亟需进行升级改造。本文根据该需求，自行设计了基于BEPCⅡ系统参数的数字BPM电子学系统，内容包括模拟信号处理电子学、数字信号处理电子学、BPM固件算法逻辑、数据获取软件以及系统测试等多个部分。设计的数字BPM电子学系统经实验板级性能测试、实验室系统测试以及在线束流测试，结果表明该系统能满足BEPCⅡ装置对束流位置测量的需求。     

HEVC压缩域的视频摘要关键帧提取方法

为了提高关键帧提取的准确率，改善视频摘要的质量，提出了一种HEVC压缩域的视频摘要关键帧提取方法。首先，对视频序列进行编解码，在解码中统计HEVC帧内编码PU块的亮度预测模式数目。然后，特征提取是利用统计得到的模式数目构建成模式特征向量，并将其作为视频帧的纹理特征用于关键帧的提取。最后，利用融合迭代自组织数据分析算法(ISODATA）的自适应聚类算法对模式特征向量进行聚类，在聚类结果中选取每个类内中间向量对应的帧作为候选关键帧，并通过相似度对候选关键帧进行再次筛选，剔除冗余帧，得到最终的关键帧。实验结果表明，在Open Video Project数据集上进行的大量实验验证，该方法提取关键帧的精度为79.9%、召回率达到93.6%、F-score为86.2%，有效地改善了视频摘要的质量。      

基于物质点法的土体强度对边坡失稳滑动距离影响研究

滑坡滑动距离是衡量边坡失稳致灾程度的重要指标之一。基于Ｄｒｕｃｋｅｒ-Ｐｒａｇｅｒ弹塑性本构模型，应用物质点法研究了土体强度对失稳边坡滑动距离的影响。首先，通过干燥铝棒坍塌试验和黏土边坡大变形算例验证物质点法程序，分析了离散物质点数量对边坡失稳模拟结果精度的影响。在此基础上，进一步研究不同坡角下黏聚力和内摩擦角对失稳边坡滑动距离的影响规律。结果表明:相邻物质点间距取0．5ｍ进行数值模拟能够保证结果的精度且计算效率高；随着黏聚力、内摩擦角的增大，滑动距离呈逐渐减小的趋势；边坡失稳过程是以坡脚处产生较大塑性应变开始，塑性区域不断扩展至坡顶形成贯穿的滑裂带，进而整体失稳。物质点法能够再现边坡失稳的整个过程，有助于深入理解滑坡的致灾机理进而为边坡加固措施设计提供可靠依据。     

γ射线法测量高压管束间气液两相流的截面含气率分布

在立式蒸汽发生器垂直管束间的气液两相流中，截面含气率是其中一个重要参数。使用γ射线法对高温高压下垂直管束间气液两相流截面含气率的分布规律进行了实验研究。实验压力分别为5、7、9 MPa，质量流速为300 kg/(m²?s)，热力学干度的范围为0.003 ~ 0.4。实验得到了垂直管束间截面含气率随热力学干度、体积含气率和压力的变化关系；并与经典公式的计算结果对比发现，在低干度区域，实验结果与Miropolskii模型、Smith模型和Armand模型偏差较大，均大于30%，在高干度区域偏差较小；基于Armand理论，通过多元线性回归法拟合出本文工况下平均截面含气率的计算关联式，与日本核动力工程公司(NUPEC)的实验数据偏差小于15%。本研究对蒸汽发生器的结构设计和流动特性研究具有重要意义。     

高能同步辐射光源逐束团束流位置测量电子学研制

基于高能同步辐射光源（HEPS）储存环，研制了一套逐束团束流位置测量（BPM）电子学系统，电子学的硬件部分由模拟信号采集板卡和数字信号处理板卡组成，软件部分由底层固件和顶层应用软件组成。系统的采样频率为500 MHz，带宽为1 GHz，对来自储存环BPM探头的4路模拟信号进行数字化，得到束团幅度数据，利用ZYNQ芯片计算出每个束团在真空管道中的位置。逐束团BPM电子学在实验室的测试结果为：输入信号峰峰值小于1.8 V时ADC通道非线性度小于1%，无杂散动态范围约60 dB，灵敏度系数取8.26 mm时位置分辨率优于10 μm，测试结果满足HEPS逐束团BPM的需求。     

是德科技 UXM 无线综测仪增添 3CC等测量功能

直观的图形触发可以帮助快速、高效地解决问题2015年1月28日,北京——是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布E7515A UXM无线测试仪增添新功能。这些新功能可以应对快速发展的3GPP LTE-Advanced载波聚合技术的迫切需求。UXM无线测试仪是高度集成的信令综测仪,适用于4G及未来的功能和射频设计验证。UXM支持多小区、下行链路和上行链路载波聚合、4×2     

是德科技率先发布适合当代半导体功率器件开发的关键参数表征解决方案

<正>提供Ciss、Coss、Crss、栅极电荷/栅极电阻测量和自动热测试是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布旗下B1505A功率器件分析仪/曲线追踪仪发布重要增强,成为业界首个支持晶圆上和封装器件所有关键参数表征的解决方案,能够提升当代半导体功率器件开发效率。高效可靠的半导体功率器件是迅速发展的功