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由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。 相似文献
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本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比较时间和测试向量、执行功能测试、从结果存储器获取“通过/失效”结果,可以计算出AC参数的量值。测试一个AC参数,二分步长测试方法需多次执行测试向量,on the fly测试法仅需执行一次测试,但要求测试系统具备on the fly资源。两种方法的测试精度相同,均能有效解决AC参数的定量测试,后者更适于高速器件的测试。文中介绍的方法在BC3192集成电路测试系统上对MAX488器件进行测试,在250 kHz的测试频率下,两种方法测得的tSKEW参数结果近似相等,具有很好的一致性。 相似文献
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一种基于FPGA的测试系统远程控制方案 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍一种基于FPGA的测试系统远程控制实现方案,给出了系统总体设计和各个模块的设计框图。灵活的设计方法使其具有较好的适用价值和应用前景。 相似文献
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VXI数模混合信号集成电路测试系统 总被引:4,自引:1,他引:3
数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目(VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化)为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATE IC测试系统,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。 相似文献