XRFA测定地质矿样中的Nb、Ta、Zr、Hf

Nb、Ta、Zr、Hf 因性质较为相近,常以共生元素或伴生元素彼此存在于地壳中。在地质找矿过程中,有关 Nb、Ta、Zr、Hf 的化学分析方法目前使用较多的是光度法,微量 Nb、Ta、Zr、Hf 的发射光谱法应用较多的是电弧浓缩法。由于这些分析方法操作繁锁,分析过程偏长,往往不能适应大批量的地质矿样分析。     

无标样XRFA法在黄金饰品检测中的应用

本文简要地叙述了无标样Ｘ射线荧光光谱分析法（无标样ＸＲＦＡ法）用于黄金饰品检测的优越性及其计算公式使用的先后顺序。计算了黄金饰品中各个待测元素的Ｆｉ、Ｔｉ和Ｒｉ的值，再一次验证了它们在一定质量分数范围内变化甚微的这一重要性质。     

X射线荧光光谱微区分析在钨矿石鉴定中的应用

为解决类质同象矿物在显微镜下鉴定困难的问题,采用X射线荧光光谱仪微区分析功能对黑钨矿((Fe,Mn)WO₄)、白钨矿(CaWO₄)等钨矿石中主元素和主要伴生元素进行定性扫描和微区分布分析,获取矿物标本中存在的异常元素及其所处部位,然后在该部位确定重点测区进行定量分析以获取矿物组分的含量,最后计算各组分的配位数,并结合矿物组分含量的理论值给矿物定名。根据矿物标本的扫描图,重点对分析谱线、背景点、能量窗口、测量方式进行选择,有效规避了干扰。对谱线的重叠干扰、基体效应和矿物效应进行了仔细的研究,选择了合适的校正方式。各主要检测组分校准曲线的相关系数均大于0.999。对定量鉴定方法的精密度进行考察,各组分的相对标准偏差(RSD,n=12)均小于4%。将实验方法用于测定黑钨矿和白钨矿标本,定量鉴定结果与电子探针分析结果进行了比较,3个矿物标本各主要组分检测结果的相对偏差(RD)均小于4%,3组数据完全吻合。