谈陶瓷装饰中的婴戏纹饰与西方艺术品中的儿童形象

婴戏纹饰即描绘儿童游戏时的画作,是中国人物画的一种,更是陶瓷装饰中常见的传统题材。其主要以儿童为主要绘画对象,表现儿童纯真,或借以其他物象,组成吉祥图案,在我国陶瓷绘画上广泛运用,有着深刻的社会形态特征和思想文化的背景。其始于唐代,兴盛于宋金,明清两朝日臻成熟,并延续至今。在西方艺术史当中,儿童形象大都通过神话人物或宗教相关的艺术品走进人们视野,用以表现某些宗教思想或精神诉求。本文主要探讨陶瓷婴戏纹饰在我国历史发展历程中的演变概况,以及笔者对我国陶瓷婴戏纹饰和西方艺术品中儿童形象横向对比下的一些思考。     

经济统计“平均数”的定义域刍议

经济统计“平均数”的定义域刍议开滦矿务局计划处王俭“平均数”通常用来对统计总体的一般水平作数量描述。但在一些情况下，任何形式的平均数却都不能反映甚至歪曲事物一般水平的本质。煤炭工业统计中用到的“煤层平均厚度”指标，在某些情况下是没有意义的。因为其优劣...     

注重规模经营振兴唐山工业

注重规模经营振兴唐山工业●王俭经济发展在不同地区、不同时期的经营思想、战略应有所区别。在不同的发展起点上，应采取不同的策略。对此如果缺乏足够的理性分析，不可避免地要走弯路，多付出“学费”。笔者认为，我国重要的能源基地河北省唐山市现在已经具备了发展规模...     

NH220-C1型发动机检修点滴

NH220-C1型发动机配用在D80A-12型推土机上,这种发动机采用高精度的定型轴瓦,瓦片的耐磨合金很薄。检修时,只需按尺寸级别选好瓦片与轴径装配即可达到标准间隙,而不需经过镗瓦或研瓦处理。我们在检修这种发动机中,曾多次遇到安装瓦片后发生“研瓦”或“抱瓦”的现象。经检查发现,除一、七道轴承安装孔处,其余五道主轴瓦安装尺寸都小于标准0.03～0.018毫米。检查缸体发现,在缸体全长范围内轴瓦安装孔的     

陶瓷结合剂碳化硅砂轮微裂纹分析

最近我厂陶瓷结合剂碳化硅砂轮出现批量性的周边裂纹现象,有的明显,有的不太明显,但经过外圆磨加工后就明显了,这种情况在我厂出现尚属首次。 针对这个问题,我们从生产工艺及烧成操作上找原因,并未发现异常现象,同时,对我厂碳化硅磨料及进厂原材料进行检测,也未发现有超出国家标准的现象。     

ZrB_2－刚玉莫来石质复合材料显微结构及力学性能的研究

通过对不同刚玉－莫来石含量的ＺｒＢ２材料力学性能及显微结构的研究，探讨了刚玉莫来石对ＺｒＢ２强度和韧性的影响，同时也分析了强化和韧化机制。     

我国重液蜡生产及市场前景

介绍了国内重液蜡生产现状和市场情况 ,阐述了异丙醇 -尿素脱蜡优于分子筛脱蜡工艺的几个特点 ,并介绍了重液蜡在塑料业、洗涤业、皮革业和微生物方面的发展方向。     

论网络平台下的科技查新新方法

网络平台下,使查新工作的变化,检索手段增多,检索工具越来越依赖于网络,课题查新时间缩短。怎样使查新工作更加全面,提高查新工作质量。     

Nitridation Kinetics of Silicon Monocrystal and Morphology of Nitride Film

Basing on TGA (thermal gravimetric analysis) of thermal nitridation at l200, l250, l300℃, respectively,analysis of high temperature kinetics for nitridation of silicon monocrystal has been carried out. According tothe theory for kinetics of reaction of vapour with solid phase a nitridation kinetic model, from which it can beshown thal the rate of nitridation reaction of silicon crystal should be controlled by three stage limiting factors,was proposed. These limiting factors are chemical reaction, chemical reaction mixed with diffusion and diffu-sion. Using this model to treat our experimental data, satisfactory correlation coefficient and apparentactivation energy of nitridation of p-type (lll) silicon crystal have been obtained. The nitride film was identi'fied to be a-Si_3N_4 (Hexagonal, a=0.7758nm,c_o=0.5623nm) by X-ray diffraction analysis. Morphology ofthe nitride films formed in different nitridation duration was observed in both planar andcross-sectional viewsby SEM (scanning electron microscope).