Mo／SiO2软X射线多层膜的结构研究

本文用磁控射方法制备了几种Ｍｏ／ＳｉＯ２多层膜。在北京同步辐射装置（ＢＳＲＦ）的衍射站上测量了其氏角Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）谱，并利用基于光学动力学理论的递推公式对低角Ｘ射线衍射谱进行了拟合，定量分析了膜层的周期结构和界面度以及界面度与层数、层厚的关系。同时用高分辩电子显微镜（ＨＲＥＭ）对一样品的截面进行了观察。     

多层膜界面粗糙度的低角X射线衍射研究

对磁控溅射方法制备的Ｗ／Ｓｉ周期多层膜在Ｘ射线衍时仪上进行了低角Ｘ射线衍射实验，并用动力学理论分析了膜层的周期结构和界面粗糙度，在对实验谱线的拟合过程中，考虑了界面的不对称性、周期的随机涨落及系统偏差等因素对衍射强度的影响，并讨论了各个参量对衍射强度影响的程度．     

北京同步辐射装置4B7A、4B7B光束线高次谐波抑制系统初步设计

为了提高北京同步辐射装置(BSRF)中4B7B软X射线光束线在45-450 eV能区和4B7A中能光束线在1200-2100 eV能区输出单色光的光谱纯净度,我们分别为两条光束线设计了高次谐波抑制系统.该系统主要由平面反射镜组成.我们确定了所有平面反射镜的镀层和掠入射角,并且对其性能进行了计算,结果以图形的形式呈现.     

软X射线条纹相机的静态性能标定

软X光扫描相机是对软X光时间特性进行研究的主要诊断工具。我们利用同步辐射作为光源，对它的静态性能：能量响应、增益等性能进行了相对标定，给出了软X光条纹相机的能量响应曲线和增益特性曲线，并与利用Henke的经验公式^[1]计算给出的响应曲线比较，其结果与理论较符合。     

四靶双离子束溅射仪制备软X光衍射色散元件

用四靶双离子束溅射仪一体化制备软Ｘ光衍射色散元件，宽束平行离子源刻蚀光栅，宽束聚焦离子源镀制软Ｘ光多层膜，经ＳＥＭ、ＴＥＭ、ＦＣ数字化图像处理和效率测试等测试手段分析，结果表明所制备器件具有良好的结构和衍射特性。     

真空紫外-软X射线波段（5～105nm）探测器校准装置的研制

介绍了中国计量科学研究院在真空紫外.软X射线波段(5～105nm)探测器标准研究的新进展.介绍了建立在中国科学技术大学国家同步辐射实验室的以稀有气体电离室为标准探测器的探测器校准装置,以及利用该电离室作为基准探测器对作为传递标准探测器的硅光电二极管的量子效率测量的结果,在5～35nm范围内,相对标准不确定度为18%～20%.与NIST的结果相比,有较好的符合.     

北京同步辐射装置3B3光束线吸收谱测量及装置设计

介绍了在北京同步辐射装置(BSRF)3B3中能光束线(1.2～6.0keV)进行X射线吸收谱(XAS)的简易装置,并利用透射法对低原子序数元素(S、P、Cl、Ca、Al、Mg等)进行X射线吸收谱测量,分析结果表明在3B3中能X射线能区开展吸收谱学研究工作是可行的.根据计算X射线吸收谱信号的结果,设备设计满足测量要求,一套包含3种X射线吸收谱测量方式(透射法、荧光法和电子产额法)的精密设备正在建设,将有利于中等能区X射线谱学研究工作的广泛开展.     

滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

介绍了用于软X光能谱测量的滤光片及X射线二极管能量应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置3WIB束线,流强40－80mA的运行条件,在100－1600eV能区对滤光片及X射线二极管（XRD）作能响曲线标定。重点对C滤片及Al阴极XRD的灵敏面作能响面均匀性研究,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。     

北京同步辐射装置3W1光源的偏振特性分析

叙述了同步辐射光源弯转磁铁(Bending magnet)、扭摆器(Wiggler)和波荡器(undulator)的基本工作原理及产生偏振同步光的物理机理。针对北京同步辐射装置(BSRF)的3W1(Wiggler)光源的偏振状态进行了理论分析和计算并给出了相应的计算结果。对于今后北京同步辐射3WIB软X光束线偏振光的应用有着十分重要的作用。