基于方波激励和故障字典的模拟电路BIST方法

针对传统模拟电路内建自测试(Built-in Self Test,BIST)方法需要占用大量电路资源的缺点,提出了一种基于方波激励和故障字典的模拟电路BIST方法。该方法使用方波信号作为测试激励,使用故障字典法进行故障状态识别,减少了硬件成本。实验结果表明该方法能够有效地对模拟电路进行故障检测和故障隔离,并且具有较低的硬件成本。