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薄膜厚度测量是VLSI生产工艺中不可缺少的重要工序,也是保证产品质量提高生产效率的重要手段。采用显微镜-全息凹面光栅-CCD-微机处理的测量系统具有结构简单工作可靠的特点。本文介绍了其原理与特点,并对该系统进行了实验,实验结果表明,对于较薄的膜层测量精度为±2nm,对于一般膜层为被测膜层厚度的±2%-±5%。 相似文献
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分析了现有的AFM力传感器的工艺特点及问题。在此基础上研究用KOH溶液两步法P+自停止腐蚀制作厚度精确可控的单晶硅悬臂梁;以SiO2为掩模,SF6刻蚀硅,用RIE与各向同性湿法化学腐蚀相结合使悬臂梁探针一次成形和用湿法腐蚀锐化探针,针尖半径约50nm.制定了适于批量生产的AFM力传感器加工工艺。 相似文献
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基于边缘和区域联合匹配的立体视觉新方法 总被引:3,自引:0,他引:3
从二维图像恢复三维信息的立体视觉研究已经出现了许多基于边缘和基于区域的方法,但对硬件的要求制约着它们的实用性.本文提出了一种对边缘和区域进行联合匹配的算法,采用边缘信息进行粗糙匹配以提高处理速度,得到一系列匹配的可能位置作为精确匹配的初始值域;采用区域图像进行精确匹配,以得到更多的细节信息,而且其平均效应会减小高频噪声对运算的影响.建立的实验系统采用奔腾133CPU、16兆内存、商用标准CCD和采集卡,软件用VC6.0编制.模拟实验表明,系统运行正常,适应性良好. 相似文献
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