集成电路测试机发展简史

本文介绍了集成电路测试机（IC TESTER）的发展简史,包括每台测试机到目前的第三代测试机的主要特点,可以看出集成电路测试机的发展方向。     

基于多几何特性的产品质量综合评定方法研究

针对几何状态复杂、质量要求多样化的产品质量评定问题,构建了基于多几何特性的质量综合评定框架,提出了质量评定数据集构建方法、评定指标体系与模糊评定数学模型、评定指标权重设计方法等,并基于统计过程控制理论,实现了对产品质量综合评定结果的批次性分析。最后基于CAA平台开发了原型系统,并进行了以上方法的初步验证。