车载经纬仪的垂轴误差分析

基于高精度机动式车载测量平台,提出了利用综合坐标变换法修正补偿机动平台变形引起的光电经纬仪测角误差。分析了综合坐标变换法的基本原理,建立基座、照准部及望远镜坐标系,并推导得出了三轴误差公式。构建了一个车载平台模型,并根据实际算例分别通过综合坐标变换法和传统单项误差累计法进行误差修正。结果表明,综合坐标变换法较单项误差累计法误差修正精度提高5,避免了单项误差累计法工作范围内分布多个较大误差点的弊端,具有较高的补偿精度,将该方法应用于机动车载测量系统可进行高精度的测量,具有较高的理论和实用价值。     

大口径离轴折反式中波红外连续变焦系统设计

基于制冷型320240凝视焦平面阵列探测器,设计了大口径离轴折反式中波红外连续变焦光学焦系统。系统工作波段为3.7～4.8 m,焦距范围250～2 000 mm,F数为4。光学系统分离轴无光焦度系统和透射式连续变焦系统两部分设计,匹配对接后优化。解决了透射式连续变焦系统因材料限制不能做到大口径、共轴折反式连续变焦系统短焦遮拦比大和离轴三反不能做到100%冷光阑效率的缺陷。满足100%冷光阑效率,在空间频率16 lp/mm处系统的MTF值大于0.5,具有像质好,分辨率高等特点,满足设计要求。     

对凝视红外热成像冷反射现象的研究

冷反射现象是在红外热成像系统中制冷的探测器通过前面的光学表面反射而探测到自身的像形成的.控制冷反射是设计红外扫描系统的一个重要指标.在一些光线追迹软件中有对红外扫描系统冷反射的分析工具,却没有优化、分析凝视阵列冷反射的工具.为了控制凝视红外系统的冷反射,一般通过非均匀校正来补偿,但这只对应某一特定的状态校正.当相对于已校正状态的一些条件变化时,冷反射又会重现.通过类比于红外扫描系统,分析了凝视系统的冷反射,并用code v给出了实例.     

镜面粗糙度对远紫外望远镜能量集中度的影响

远紫外空间成像设备镜面粗糙度严重影响成像质量,成像质量可用能量集中度来表征。拟用余弦相位调制光栅分析方法定性说明镜面粗糙度RMS对能量集中度的影响;通过傅里叶光学线性系统理论建立了普遍的面传递函数,得到了角度能量和能量集中度的分布情况,并以设计上达到衍射极限的1 216 （1=0.1 nm）远紫外望远镜为对象,在镜面粗糙度RMS值远小于波长的假定情况下,得到了能量集中度与主次镜面粗糙度RMS和面自相关长度的关系,并预测了镜面粗糙度引起的分辨率误差在0.171 5时对镜面加工的要求,即主次镜镜面RMS小于31 ,面自相关宽度大于1波长,这对于实际的加工具有指导意义。     

互补伪彩色编码在半自动视频判读中的应用

通过对基于IHS空间互补伪彩色增强的方法进行改进,对色调H的取值方法做适当调整,使目标和背景的色调H相差π,成为反差大的互补色,从而使判读更加容易和准确.实验表明,改进后的CPCIHS方法效果明显.     

BEPC储存环同步光束流测量光学系统

概括了同步光束流测量的特点,简单描述了北京正负电子对撞机(BEPC)现有同步光束流测量系统.根据BEPC改造对同步光束流测量系统提出的最新指标,提出了改造原有系统的新方案.对同步光引出镜进行了全新设计;采用高分辨率面阵CCD实现束团横截面尺寸测量、束团强度测量和束团位置检测;采用条纹相机实现束团纵向长度的测量;利用Zemax程序对新方案进行成像质量分析,束团纵向长度测量分辨率为2ps,束团横截面尺寸测量分辨率为20μm.     

压弯聚焦镜自重的平衡

介绍了北京同步辐射装置中能X射线光束线(BSRF．383)中的压弯聚焦镜；在分析重力带来的面形误差的基础上，给出了重力平衡的方法；建立了修正前和修正后的柱面镜面形误差的数学模型，并通过优化计算，找出了最佳平衡力的作用点和大小。实施重力平衡后，压弯泵系统自重引起的面形误差可以大大减小。     

BSRF-3B3中能光束线聚焦镜压弯机构离线测试

在BSRF-3B3中能光束线安装调试过程中,我们设计出一套完整的离线测试方法。这种方法采用激光模拟同步辐射光,测试聚焦镜压弯机构性能,并通过观察焦点以及焦点前后处光斑变化规律测试压弯机构性能,摸索压弯成像规律;另一方面,记录压力传感器读数,为今后在线调试提供参考依据。     

双晶单色器固定高差相对检测技术研究

简述了同步辐射光束线中双晶单色器的基本原理和固定高差原理,介绍了固定高差相对变化的离线检测方法,并对该检测技术进行精度分析.结果表明:影响检测精度的主要因素是光斑判读精度,检测实例显示,检测精度可达4.9μm,满足精度需求.     

弧矢聚焦双晶单色器聚焦误差分析

简单介绍了弧矢聚焦单色仪的分光原理及结构原理,分析了同步辐射弧矢聚焦双晶单色器实际转轴偏离理想转轴ΔS及晶面偏离与导轨的理想夹角Δα对出射光高度的影响,并对弧矢聚焦晶体压弯半径的压弯精度Δh对实验站聚焦光斑展宽的作用进行了理论推导.当ΔS≤31μm、Δα≤1′,就可以确保出射光线高度误差Δh≤25μm;当对称压弯第二晶体所需微位移器的行程≥1mm、精度≤1.25μm时,可满足聚焦光斑的展宽≤0.5mm要求,且当压弯半径R的弯曲精度在ΔR≤0.75%R的范围内不需对晶体压弯.