配置程控样品台的原子力显微镜重定位成像方法

原子力显微镜(Atomic Force Microscopy)已成为在纳米尺度对样品进行观察和操纵的重要工具。基于原子力显微镜观测的重定位技术提供一种微观区域内对样品处理前后原位对比观测的方法。本文利用坐标实时显示的程控高精度样品台系统,联合使用表面双标记定位法,建立一种新的重定位方法,方便、高效地实现样品重定位AFM成像。     

用于软刻蚀复型及转印前后形貌比较的反向重定位AFM成像方法

软刻蚀技术运用聚二甲基硅氧烷（Poly dimethylsiloxane，PDMS）等聚合物材料制备弹性图章，并用制备好的图章转印图形结构至特定基底。在很多情况下需对模板和弹性图章、图章与转印图形同一位置的形貌进行表征。基于原子力显微镜观测的反向重定位技术提供了一种微观区域内对二雏平面互为镜像关系的两种样品的原位对比观测方法。本文利用坐标实时显示的程控高精度样品台系统，联合使用非对称表面标记及坐标镜像复制的定位法，实现了对样品的精确反向重定位成像。