PTC陶瓷热敏电阻器综合参数测试仪

研制成一种专用于PTC陶瓷热敏电阻器的综合参数测试仪。在这种小型廉价的数显仪器上,可以实现对器件常温电阻、最大冲击电流、最大工作电压、残余电流、启动时间、恢复时间反击穿电压等参数的测量。本文扼要阐述了仪器及各参数测量的原理。     

金属－PTC陶瓷复合材料研究

研究低Ｔ＿ｃＰＴＣＲ复合材料的制备工艺，测试所制成样品的阻温特性。通过样品Ｘ射线定性相分析，探讨该复合材料所表现的ＮＴＣ阻温特性机理。     

电子显微镜灯丝专用保护器

为保证图象的清晰度，电子显微镜的灯丝多采用Ｖ形结构，并工作于饱和状态，因此灯丝寿命一般只有３０～５０ｈ。专用保护器具有Ｖ形阻－温特性，能有效地防止冲击电流的产生，抑制过载电流，使灯丝寿命至少可延长到６０～８０ｈ。     

受主杂质Mn对（Ba,Pb）TiO3系高温PTC热敏陶瓷的影响

本文研究了(Ba,Pb)TiO_3系高温PTC半导体陶瓷中半导化与其烧结工艺、铅空位、钡空位和施、受主杂质等相互之间的关系。着重分析讨论了引入受主杂质Mn对材料的半导化的影响,并采用复合缺陷模型自洽地解释了实验现象。     

Pb掺杂BaO-Nd_2O_3-TiO_2系微波介质陶瓷及其低频测量方法的研究

初步研究了微波介质陶瓷 Ba3.75Nd9.5Ti18O54在 Pb掺杂后的显微组织及晶体结构的变化 ,并验证了用低频介电测量数据估算微波介质陶瓷材料介电性质的可行性。研究结果表明 ,掺入少量 Pb以后 ,Ba3.75Nd9.5Ti18O54 介电陶瓷的微观结构有显著变化 ,介电性能 ,尤其是相对介电常数εr有明显的提高。     

智能PTC陶瓷参数测试仪

本文介绍采用MCS—51单片机控制的PTC陶瓷参数测试仪的硬件与软件。     

施主掺杂对BaTiO3陶瓷性能的影响

研究了在BaTiO3陶瓷中添加不同浓度的施主杂质在H2气氛中烧结后的实验结果，对所得的结果进行了分析，结果表明：它们具有相近的平均晶粒直径，在大气中氧化后，仍然具有典型的U形电阻率-施主掺杂浓度曲线，这与传统理论不完全一致，文章就晶粒尺寸随氧分压的变化提出了新的见解。     

镧锶铋钛陶瓷的介电性能与缺陷机构

研究了镧锶铋钛系陶瓷的介电性能与缺陷机构。结果表明,镧含量低时,材料中存在复合缺陷,且材料的介电常数随镧含量增加呈现峰值;当镧含量较高时,镧在锶铋钛系中的替代位置由A位向B位移动,呈现施-受主补偿,使得材料中复合缺陷解体,材料的介电常数下降。在缺陷机构发生改变的过程中,材料的电子密度变化不大。此外.根据正电子湮没寿命谱的结果,对材料中缺陷机构的进一步分析证实了上述缺陷模型的合理性。