纯石墨中微量元素的光谱测定

本文叙述了采用部分灰化法集石墨中杂质元素(富集系数～10),然后加入NaCl“载体”,用粉末法进行光谱测定的方法。若杂质元素含量较高,不用富集,可以直接进行测定。本方法可测定纯石墨中的12个杂质元素。当富集系数约为10时,其测定下限为:Cu 0.03ppm;Mg 0.05ppm;Mn,Fe,Al,V 0.1ppm;Sn,Si,Ni,Ti 0.3ppm;Ba,Cr1.0ppm。其单次摄谱的波动系数在±23%以内(除Si为±27%外);样品测定的波动系数在±25%以内。     

用光电流光谱学新技术测量激光光谱线的轮廓和线宽

低压气体放电的光电流效应现在已发展成为一门新型的光电流光谱学技术,广泛应用于激光光谱学研究、计量学、分析化学上.我们应用这种光电流光谱技术,测量了氦-氖激光6328(?)线的轮廓和线宽,并用扫描干涉仪验证了测量结果.实验装置示于图1.     

火焰原子吸收光谱法测定明胶中Mg、Ca、Cu、Fe等杂质

明胶是感光工业基本原料之一,其质量的好坏直接影响照像性能,因此对明胶中的杂质进行分析研究具有重要的实际意义。本文采用火焰原子吸收光谱法测定明胶中Mg、Ca、Cu、Fe四个元素。明胶样品经灰化除去有机成分后进行酸溶,然后定容到