基于自洽方程组及传递函数的腔衰荡信号研究

为了更好地理解腔衰荡技术的物理本质和测量过程从而更好地分析腔衰荡信号,利用自洽方程组、结合光学无源腔的品质因子Q值定义对腔衰荡技术的基本原理进行了推导,并结合该方程组有关系数的物理意义,引入传递函数的概念分析了不同情况下的腔衰荡信号的基本特征.结果表明,这种分析方式可靠,可为腔衰荡技术在超低损耗薄膜性能标定及腔内介质的吸收光谱测量等领域的应用提供理论指导.     

超光滑表面粗糙度测量的研究

本文讨论了对积分散射测量的超光滑表面均方粗糙度进行修正的问题，得出结论：可以直接依赖于散射理论从积分散射测量确定表面粗糙度值。     

真空光镊系统及其在精密测量中的研究进展

光镊具有非接触、低损伤和适用范围广等特性,被广泛应用于生命科学、纳米科技等领域。光镊系统通过调制束缚光场操控机械振子的运动,借助光动量和角动量的检测获取振子的运动状态,以实现对振子物理参量的精密测量。与传统液体光镊系统不同,真空光镊系统中的机械振子可获得与外界环境近乎完全隔离的状态,具有超高灵敏度的探测能力,是精密测量和基础物理研究的理想平台。首先介绍了真空光镊系统相关的基础理论,然后介绍了真空光镊系统的实验配置方案及其在精密测量中的典型应用,最后总结了真空光镊系统的发展现状,并给出了未来的发展建议。     

超光滑基片表面均方根粗糙度的测量

探讨根据测量的总积分散射定标得到表面均方根粗糙度的问题。利用基片的表面模型和积分球本身的结构特征,对测量的表面有效均方根粗糙度进行修正,得到的表面均方根粗糙度与进口表面测量仪测量得的值相差为０．１ｎｍ 左右。     

基于AHP-Delphi模型的淤泥质地基基坑支护方案决策研究

基于南京市杨家沟泵站淤泥质地基基坑支护施工过程中的技术指标资料,分析各种支护方案对淤泥质基坑支护的影响,确立淤泥质地基基坑支护方案的决策体系,构建AHP-Delphi模型对各支护方案做科学性的评价与决策。通过AHP-Delphi模型决策合理的淤泥质地基基坑支护方案,结合主观因素的经验性和客观因素,为提升淤泥质地基基坑开挖决策水平提供较为科学的依据。     

基于数据采集卡和多路复用器的多轴电动光学调整台控制器

建立了基于数据采集卡和多路复用器的多轴电动光学调整台控制器,并应用在积分散射仪中。控制器利用数据采集卡的数字输出和计数器脉冲输出功能,分别发送地址信号到多路复用器和脉冲信号到步进电机驱动器,实现了对调整台的点位控制。基于LabView开发了独立的控制软件和可供调用的子程序。控制系统在硬件和软件上都完全集成到积分散射仪中。     

基于CCD和LabVIEW的激光光斑分析系统

建立了基于CCD和LahVIEW的光斑分析系统,以实时监测激光应用系统中光斑的状态.对通用图像采集卡的驱动程序进行配置以便在LabVIEW中调用.对采集到的原始图像用邻域平均法进行抑噪预处理,再用加权灰度重心法计算光斑的中心位置,用检测边缘的方法计算光斑尺寸.基于LabVIEW开发了具有独立界面的采集分析软件.     

适度反馈机制下非准直外腔二重反馈自混合干涉

为了研究多重反馈对半导体激光器自混合信号的影响,运用三腔镜模型分析了多重反馈和非准直倍频现象,并进行了仿真分析和实验验证。通过仿真发现,第2重反馈相对于第1重反馈的相对强度η较大时能明显分辨出二重反馈,利用信号微分能区分出二重反馈信号,实现系统分辨率达到λ/4,二重反馈之间非准直相位差会影响干涉信号波形。实验验证了外腔反射镜非准直抑制第1重反馈利用二重反馈实现非准直干涉条纹倍频现象,实验结果与仿真分析相符。该结论将有利于提高系统分辨率和判断外腔是否准直。     

基于采集卡和Lab View的锁相放大技术在散射光测量中的应用

建立了基于采集卡和LabView的正交锁相放大测量系统,探测超光滑表面散射光强（nW量级）。分析了该系统对外界杂散光干扰和电气噪声的消除和削弱能力。利用该系统和硬件锁相放大器SR830分别测量光电调制信号,两者抑制噪声和还原信号能力一致,前者可替代后者。     

"假想层"在Needlee法膜系设计中的应用

Needle法是一种强大的膜系设计方法,它的突出特点是不依赖于初始膜系的给定,几乎对各种膜系设计目标都能给出比较令人满意的设计结果。但它的物理模型不够清楚,很难从直观上理解。通过在Needle法的推导过程中引入“假想层”的概念,使Needle法的整个推导过程清楚明了、容易理解,改进后的Needle法依然保持了它原来的各种优点。最后用两个设计实例说明了这种改进的有效性。