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1.
电子装备通用测试体系关键技术研究
吴昊
廖涛
何小东
王心聪
《电子测试》
2020,(10):63-65,48
为解决电子装备自动测试系统的数量多,功能重复等问题,提出了电子装备通用测试平台,通过分析多种总线结构、测试硬件和驱动体系的核心指标与技术特征,借鉴分层思想设计通用型体系架构,以多种测试仪器为基础,利用多层次的驱动体系屏蔽混合总线差异,将测试程序与测试仪器分离,实现了只需更换测试仪器和配置对应的驱动,便可置换底层仪器,使通用测试平台具备较强的扩展能力,覆盖更多测试需求,有效降低测试系统的数量。
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